[实用新型]锁存器、数据运算单元以及芯片

说明书

本实用新型实施例提供了一种锁存器、数据运算单元以及芯片，锁存器包括：输入端，用于输入数据；时钟信号端，用于提供时钟信号；锁存单元，与输入端连接，用于在时钟信号的控制下锁存从输入端输入的数据；输出单元，与锁存单元连接，用于传输所述锁存单元输出的数据；输出单元与锁存单元之间具有一数据存储节点；输出端，用于从输出单元读出数据；漏电补偿单元，电性连接在数据存储节点和输出端之间，当锁存单元在时钟信号的控制下处于高阻状态时，漏电补偿单元用于基于输出端输出的数据，对数据存储节点进行漏电补偿。本实用新型实施例的锁存器，可延缓数据存储节点处漏电的速度，避免锁存器中数据丢失的问题。

技术领域

本实用新型实施例涉及半导体器件技术领域，尤其涉及一种锁存器、数据运算单元以及芯片。

背景技术

锁存器是一种对脉冲电平敏感的存储单元电路，它们可以在特定输入脉冲电平作用下改变状态。锁存，就是把信号暂存以维持某种电平状态。锁存器的最主要作用是缓存。

现有锁存器通常包括：锁存单元和输出单元，锁存单元和输出单元串联连接。当锁存单元在时钟信号的控制下处于导通状态时，输入锁存器的数据依次通过锁存单元和输出单元，并可直接从输出端输出；当锁存单元在时钟信号的控制下处于高阻状态(截止状态)时，输入端无法继续输入数据，输出单元中晶体管的寄生电容(栅电容)对锁存单元和输出单元之间的数据存储节点处的数据进行暂存。这样，可以基于寄生电容中的电荷来保持数据存储节点处的电平状态，从而使得输出单元继续输出数据。

但是，半导体元件具有漏电流，即：在截止状态下，半导体元件中也存在微小的电流。当锁存单元处于截止状态时，由于锁存单元中漏电流的存在，数据存储节点处出现漏电现象，导致锁存器中数据丢失的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种锁存器、数据运算单元以及芯片，用于延缓漏电的速度，避免锁存器中数据丢失的问题。

本实用新型实施例的第一方面，提供了一种锁存器，包括：

输入端，用于输入数据；

时钟信号端，用于提供时钟信号；

锁存单元，与所述输入端连接，用于在所述时钟信号的控制下锁存从所述输入端输入的数据；

输出单元，与所述锁存单元连接，用于传输所述锁存单元输出的数据；所述输出单元与所述锁存单元之间具有一数据存储节点；

输出端，用于从所述输出单元读出数据；

漏电补偿单元，电性连接在所述数据存储节点和所述输出端之间，当所述锁存单元在所述时钟信号的控制下处于高阻状态时，所述漏电补偿单元用于基于所述输出端输出的数据，对所述数据存储节点进行漏电补偿。

可选地，所述漏电补偿单元包括：第一漏电补偿电路和第二漏电补偿电路；

所述第一漏电补偿电路的一端与所述数据存储节点连接，另一端与所述输出端连接；当所述数据存储节点处为高电平状态时，所述第一漏电补偿电路用于对所述数据存储节点进行漏电补偿；

所述第二漏电补偿电路的一端与所述数据存储节点连接，另一端与所述输出端连接；当所述数据存储节点处为低电平状态时，所述第二漏电补偿电路用于对所述数据存储节点进行漏电补偿。

可选地，所述第一漏电补偿电路包括：第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管；

所述第一PMOS晶体管的源极与电源连接，所述第一PMOS晶体管的栅极与所述输出端连接；所述第一PMOS晶体管的漏极与所述第二PMOS晶体管的源极连接；

所述第二PMOS晶体管的栅极与电源连接；所述第二PMOS晶体管的漏极与所述数据存储节点连接；

所述第二漏电补偿电路包括：第一NMOS晶体管和第二NMOS晶体管；