[实用新型]一种闪存芯片的测试装置

权利要求书

1.一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，该装置包括测试机底座(31)，测试平台，测试托架(25)，垂直支架(37)，进步电机(38)，控制箱，进步电机导轨(14)；

所述垂直支架(37)垂直安装在测试机底座(31)上，所述控制箱安装在垂直支架(37)的外侧，所述进步电机(38)安装在垂直支架(37)的内侧，该进步电机(38)上具有进步电机导轨(14)，所述测试托架(25)通过导轨滑块(40)可沿着进步电机导轨(14)上下位移；

所述测试平台位于测试托架(25)的下方，并安装在测试机底座(31)上，所述进步电机(38)上部具有步进电机电缆(10)；

所述垂直支架(37)通过三角固定架(39)固定在测试机底座(31)上；所述测试机底座(31)上具有微动开关电缆孔(13)，该微动开关电缆孔(13)上具有微动开关(12)，所述微动开关(12)上具有上升按钮(26)和下降按钮(27)。

2.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述控制箱包括控制箱面板(8)和控制箱后盖(35)，所述控制箱后盖(35)通过控制箱面板(8)与垂直支架(37)连接；

所述控制箱后盖(35)的上部具有步进电机电缆孔(9)，侧面上部具有散热风扇(34)，侧面下部具有测试机开关(32)和测试机电源插孔(33)；所述控制箱面板(8)自上而下依次排列有记忆控制按钮(1)，锁定控制按钮(2)，缓冲控制按钮(3)，扎针控制按钮(4)，恢复原点控制按钮(5)，伺服电机控制按钮(6)，模式控制按钮(7)。

3.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述测试托架(25)的侧部具有测试托架固定孔(18)，该测试托架固定孔(18)用于连接导轨滑块(40)；该测试托架(25)具有急停保护罩(21)和急停微动开关(22)，所述急停保护罩(21)上具有急停保护罩悬挂孔(15)；所述测试托架(25)的四周具有针卡固定螺栓(23)，用于固定测试针卡(20),该测试针卡(20)的中部具有探针(24)。

4.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述进步电机(38)的侧面具有急停开关线缆(30)；进步电机导轨(14)上具有导轨保护罩(29)。

5.如权利要求1所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述测试平台自上而下依次包括测试作业面(47)，抽真空组件(46)，水平旋转滑块(45)，水平旋转外框(44)，前后移动滑块(43)，左右移动滑块(42)和测试平台底座(41)。

6.如权利要求5所述的一种闪存芯片的测试装置，其特征在于，所述抽真空组件(46)通过真空管快速接头(48)与真空泵连接软管(49)连接；所述测试作业面(47)上具有真空吸气孔(16)和镶片(17)。