[实用新型]对称式正反接检测电路

说明书

本实用新型公开了一种对称式正反接检测电路，包括第一连接器、第二连接器、第一控制单元、第二控制单元、第三控制单元、第四控制单元、第一检测信号输入单元、第二检测信号输入单元以及主控MCU；第一连接器与第一控制单元连接，第二连接器与第二控制单元连接，第一控制单元与第二控制单元、第三控制单元和第四控制单元连接，第二控制单元与第一控制单元、第三控制单元和第四控制单元连接，第三控制单元与第一检测信号输入单元连接，第一检测信号输入单元与主控MCU连接，第四控制单元与第二检测信号输入单元连接，第二检测信号输入单元与主控MCU连接。本实用新型大大减少了PCB环路面积，减少了环境的噪声干扰，提高了检测的准确性。

技术领域

本实用新型涉及检测电路，更具体地说是一种对称式正反接检测电路。

背景技术

现有技术中，通过连接器正接检测电路检测连接器是否正确接线，连接器反接检测电路检测连接器是否接线错误，以这种方式进行电路检测，元器件分散，器件环路面值大，容易引入外部环境噪声，从而引起信号的干扰，容易导致错误的判断。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供对称式正反接检测电路。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

对称式正反接检测电路，包括第一连接器、第二连接器、第一控制单元、第二控制单元、第三控制单元、第四控制单元、第一检测信号输入单元、第二检测信号输入单元以及主控MCU；所述第一连接器与所述第一控制单元连接，所述第二连接器与所述第二控制单元连接，所述第一控制单元与第二控制单元、第三控制单元和第四控制单元连接，所述第二控制单元与所述第一控制单元、第三控制单元和第四控制单元连接，所述第三控制单元与所述第一检测信号输入单元连接，所述第一检测信号输入单元与所述主控MCU连接，所述第四控制单元与所述第二检测信号输入单元连接，所述第二检测信号输入单元与所述主控MCU连接。

其进一步技术方案为：所述第一控制单元和第二控制呈上下对称设置；所述第三控制单元和第四控制单元呈左右对称设置。

其进一步技术方案为：所述第一控制单元为二极管D1。

其进一步技术方案为：所述第二控制单元为二极管D2。

其进一步技术方案为：所述第三控制单元为三极管Q1。

其进一步技术方案为：所述第四控制单元为光耦合器U2。

其进一步技术方案为：所述第一检测信号输入单元为电阻R5，所述第二检测信号输入单元为电阻R6。

其进一步技术方案为：所述二极管D1的正极与所述第一连接器连接，所述二极管D1的负极与所述三极管Q1的基极、光耦合器U2的控制端以及二极管D2的负极连接，所述二极管D2的正极与所述第二连接器连接，所述二极管D2的负极与所述三极管Q1的集电极、光耦合器U2的控制端以及二极管D1的负极连接，所述三极管Q1的发射极与GND连接，所述三极管Q1的基极通过电阻R2与所述二极管D1的负极、二极管D2的负极以及光耦合器U2的控制端连接，所述三极管Q1的集电极与所述电阻R5的一端连接，所述光耦合器U2的控制端与检测设备的电源连接，所述光耦合器U2的控制端通过电阻R3与所述二极管D1的负极、二极管D2的负极以及三极管Q1的基极连接，所述光耦合器U2的受控端与所述电阻R6的一端连接，所述电阻R5的另一端与所述主控MCU连接，所述电阻R6的另一端与所述主控MCU连接。

其进一步技术方案为：所述主控MCU为芯片U1，所述芯片U1所采用的型号为HT66F004。

其进一步技术方案为：还包括硬件控制单元；所述硬件控制单元包括电阻R7以及MOS管Q2，所述电阻R7的一端与所述电阻R6的一端连接，所述电阻R7的另一端与所述MOS管Q2的栅极连接，所述MOS管Q2的源极与GND连接。