[实用新型]一种毫米波芯片通用测试平台

权利要求书

1.一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架(1)、下机架(2)、运动模组(3)，其特征在于，所述上机架(1)所在的上表面设置显示器(11)以及触控模组(13)；所述运动模组(3)具有X、Y、Z三轴运动方向，并在所述运动模组(3)上固定有快换模块(4)和微针测试模组(5)，所述快换模块(4)固定并沿底部的X轴方向上运动，所述微针测试模组(5)通过底部的线性轴承组合(15)提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组(5)的底部设置弹性组件(14)；

所述下机架(2)上设置有开关矩阵盒(6)、矢量网络分析仪(7)、工控机(8)、plc控制盒(9)，所述plc控制盒(9)控制开关矩阵盒(6)、矢量网络分析仪(7)以及工控机(8)的工作。

2.根据权利要求1所述的毫米波芯片通用测试平台，其特征在于，所述上机架(1)所在的顶部设置三色灯(10)。

3.根据权利要求1所述的毫米波芯片通用测试平台，其特征在于，所述上机架(1)所在的框架侧边设置安全光栅(12)。

4.根据权利要求1所述的毫米波芯片通用测试平台，其特征在于，所述微针测试模组(5)沿着Z轴方向运送。