[实用新型]一种毫米波芯片通用测试平台

说明书

本实用新型公开了一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架、下机架、运动模组，上机架所在的上设置触控模组；运动模组具有X、Y、Z三轴运动方向，并在所述运动模组上固定有快换模块和微针测试模组，快换模块固定并沿底部的X轴方向上运动，微针测试模组通过底部的线性轴承组合提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组的底部设置弹性组件；下机架上设置有开关矩阵盒、矢量网络分析仪、工控机、plc控制盒，所述plc控制盒控制开关矩阵盒、矢量网络分析仪以及工控机的工作。整个装置通过快换模块在X、Y轴向上的运动，配合微针测试模组在Z轴上的运动，即能实现单板测试又能实现连板测试，大大解决了劳动强度大、以及生产效率低的问题。

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，具体涉及一种毫米波芯片通用测试平台。

背景技术

在毫米波天线和半导体行业，电路小型化已成为必然趋势，微小而精密的芯片越来越小，越来越多，测试难度越来越大。微型芯片测试的方式一般采用微针对金面测试点进行连接，为了保证测试可靠性，微针需要和测试点可靠连接，同时力度不能过大导致金面损伤，力度也不能太过小，太小会导致接触不良而造成产品误测，造成重复测试的工时浪费。

然而传统的芯片测试环节，多采用手动夹具的方式进行测试。但是这种手工操作的方式，对芯片的测试稳定性带来一定影响，并且手动夹取的方式极大的增加了劳动强度，导致芯片测试环节测试效率低下。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种毫米波芯片通用测试平台，解决了现有技术中存在的上述技术问题。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：

一种毫米波芯片通用测试平台，包括上机架、下机架、运动模组，所述上机架所在的上表面设置显示器以及触控模组；所述运动模组具有X、Y、Z三轴运动方向，并在所述运动模组上固定有快换模块和微针测试模组，所述快换模块固定并沿底部的X轴方向上运动，所述微针测试模组通过底部的线性轴承组合提供Z轴运动方向移动，同时在微针测试模组的底部设置弹性组件；

所述下机架上设置有开关矩阵盒、矢量网络分析仪、工控机、plc控制盒，所述plc控制盒控制开关矩阵盒、矢量网络分析仪以及工控机的工作。

进一步的，所述上机架所在的顶部设置三色灯。

进一步的，所述上机架所在的框架侧边设置安全光栅。

进一步的，所述微针测试模组沿着Z轴方向运送。

本实用新型的有益效果：

1、本装置解决传统的手动测试一致性稳定性差的问题。解决手动测试劳动强度大，效率低的问题。

2、本装置决同类型产品，因为产品换型而产生的重复设计，重复搭建测试系统而产生的设计工时及材料成本的浪费。

3、解决原有完成测试所需要硬件搭建而成的测试系统占地空间大，杂乱无章的问题。

4、解决微针模组测试稳定性差，微针易损坏的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例的整体结构示意图；

图2是本实用新型实施例的运动模组结构示意图；

图3是本实用新型实施例的微针测试模组结构示意图；

图4是本实用新型实施例的下机架结构示意图；

图5是本实用新型实施例的上机架结构示意图。