[实用新型]一种晶圆去胶剥离装置有效
申请号: | 202120381648.3 | 申请日: | 2021-02-20 |
公开(公告)号: | CN214411131U | 公开(公告)日: | 2021-10-15 |
发明(设计)人: | 陈康;刘四化;王宜;张啟涛 | 申请(专利权)人: | 无锡瑞达半导体专用设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;G03F7/42 |
代理公司: | 南京常青藤知识产权代理有限公司 32286 | 代理人: | 毛洪梅 |
地址: | 214064 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 晶圆去胶 剥离 装置 | ||
1.一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,包括处理箱,所述处理箱的前侧设有箱门,所述处理箱的底部设有与所述处理箱左右两侧垂直设置的导轨,所述导轨上设有能够沿其横向滑动的支撑杆,所述支撑杆的顶部设有支撑板,所述支撑板的顶部设有承载盘,所述支撑板的底部设有电机,所述电机的驱动轴穿过所述支撑板并与所述承载盘的底部中心固定连接;所述支撑板上设有若干密布的引流孔,所述引流孔的尺寸小于所述支撑杆与所述电机的尺寸,所述承载盘上设有若干放置孔,所述放置孔的孔壁底部上设有水平设置的纱格网;所述处理箱的侧壁上设有推动所述支撑杆移动的推动气缸;
所述处理箱的顶部设有两个竖直升降隔板,当所述升降隔板完全收缩时,其底部高于所述承载盘的顶部,两个所述竖直升降隔板将所述处理箱隔成沿着所述导轨方向的去胶腔、清洗腔与干燥腔,所述去胶腔的顶部设有用于喷淋去胶溶液的去胶喷头,所述清洗腔的顶部设有用于喷淋清洗溶液的清洗喷头,所述干燥腔的顶部设有喷气头。
2.根据权利要求1所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述升降隔板包括固定板、挡板与升降气缸,所述固定板的顶部与所述处理箱的顶部固定连接,所述固定板一侧的所述处理箱的顶部设有升降气缸,所述挡板的顶部一侧设有与所述固定板相对的插槽,所述固定板能够插设于所述插槽内,所述固定板的顶部另一侧与所述升降气缸的活塞底部固定连接,所述升降气缸带动所述挡板竖直升降。
3.根据权利要求2所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述挡板的高度大于所述固定板底部与所述电机底部的高度和。
4.根据权利要求1所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述支撑杆的数量为两个,所述支撑板与所述承载盘共轴,两个所述支撑杆的顶部分别相对的与所述支撑板的底部两侧固定连接,所述电机固定于所述支撑板的底部中心,所述支撑板的中心设有与所述电机的驱动轴匹配的穿孔,所述电机的驱动轴穿过所述穿孔。
5.根据权利要求1所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述导轨上设有能够沿其滑动的滑块,所述支撑杆的底部固定于所述滑块上,所述推动气缸与所述滑块连接。
6.根据权利要求1所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述放置孔的数量为四个,待加工的晶圆置于所述放置孔的纱格网上。
7.根据权利要求1所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述引流孔为条形孔,所述引流孔均匀的横向排列于所述支撑板上。
8.根据权利要求1所述的一种晶圆去胶剥离装置,其特征在于,所述箱门上设有透明观察窗。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造