[实用新型]高灵活性芯片测试治具有效
申请号: | 202120462474.3 | 申请日: | 2021-03-04 |
公开(公告)号: | CN214622928U | 公开(公告)日: | 2021-11-05 |
发明(设计)人: | 胡昌水 | 申请(专利权)人: | 深圳市山特精工有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市众元信科专利代理有限公司 44757 | 代理人: | 王宣玲 |
地址: | 518106 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 灵活性 芯片 测试 | ||
1.高灵活性芯片测试治具,其特征在于,包括:
固定组件(1),所述固定组件(1)包括有底座(101),所述底座(101)内部设置有磁吸槽(102),所述磁吸槽(102)内部磁力连接有磁吸脚(213);
芯片测试治具本体(2),所述芯片测试治具本体(2)包括有测试仓(201),所述测试仓(201)下表面固定连接有磁吸脚(213),所述测试仓(201)表面一侧固定连接有转杆(202),所述转杆(202)外部活动连接有测试盖(203),所述测试仓(201)上表面活动连接有测试盖(203),所述测试盖(203)内部活动连接有丝杆(204),所述丝杆(204)下端活动连接有传动板(209)。
2.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述丝杆(204)上端固定连接有转盘(205),所述转盘(205)上表面固定连接有把手(206)。
3.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述传动板(209)下端固定连接有第一弹簧组(210),所述第一弹簧组(210)下端固定连接有压板(211)。
4.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述测试仓(201)底部固定安装有测试板(212),所述测试仓(201)远离转杆(202)的有一侧固定安装有USB接口(207)。
5.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述测试盖(203)靠近USB接口(207)的一侧下表面固定连接有卡扣(215),所述卡扣(215)卡紧连接有卡杆(214)。
6.根据权利要求5所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述卡杆(214)靠近转杆(202)的一侧固定连接有联动杆(217),所述联动杆(217)通过第二弹簧组(216)活动安装于测试仓(201)外壁内部,所述联动杆(217)远离转杆(202)的一端穿过测试仓(201)外壁固定连接有按钮(208)。
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