[实用新型]高灵活性芯片测试治具有效

专利信息
申请号: 202120462474.3 申请日: 2021-03-04
公开(公告)号: CN214622928U 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 胡昌水 申请(专利权)人: 深圳市山特精工有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 深圳市众元信科专利代理有限公司 44757 代理人: 王宣玲
地址: 518106 广东省深圳市光明新区公*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 灵活性 芯片 测试
【权利要求书】:

1.高灵活性芯片测试治具,其特征在于,包括:

固定组件(1),所述固定组件(1)包括有底座(101),所述底座(101)内部设置有磁吸槽(102),所述磁吸槽(102)内部磁力连接有磁吸脚(213);

芯片测试治具本体(2),所述芯片测试治具本体(2)包括有测试仓(201),所述测试仓(201)下表面固定连接有磁吸脚(213),所述测试仓(201)表面一侧固定连接有转杆(202),所述转杆(202)外部活动连接有测试盖(203),所述测试仓(201)上表面活动连接有测试盖(203),所述测试盖(203)内部活动连接有丝杆(204),所述丝杆(204)下端活动连接有传动板(209)。

2.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述丝杆(204)上端固定连接有转盘(205),所述转盘(205)上表面固定连接有把手(206)。

3.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述传动板(209)下端固定连接有第一弹簧组(210),所述第一弹簧组(210)下端固定连接有压板(211)。

4.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述测试仓(201)底部固定安装有测试板(212),所述测试仓(201)远离转杆(202)的有一侧固定安装有USB接口(207)。

5.根据权利要求1所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述测试盖(203)靠近USB接口(207)的一侧下表面固定连接有卡扣(215),所述卡扣(215)卡紧连接有卡杆(214)。

6.根据权利要求5所述的高灵活性芯片测试治具,其特征在于:所述卡杆(214)靠近转杆(202)的一侧固定连接有联动杆(217),所述联动杆(217)通过第二弹簧组(216)活动安装于测试仓(201)外壁内部,所述联动杆(217)远离转杆(202)的一端穿过测试仓(201)外壁固定连接有按钮(208)。

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