[实用新型]高灵活性芯片测试治具

说明书

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体的说是高灵活性芯片测试治具，包括：固定组件，所述固定组件包括有底座，所述底座内部设置有磁吸槽，所述磁吸槽内部磁力连接有磁吸脚；芯片测试治具本体，所述芯片测试治具本体包括有测试仓，所述测试仓下表面固定连接有磁吸脚；本实用新型通过转动丝杆可以调整传动板的高度，从而可以调整对芯片的压力，使得操纵人员可以根据需要调整测试治具的压力，通过将芯片放入测试仓内进行压紧操作后完成快速测试，本实用新型通过测试板进行与芯片进行连接，然后通过USB接口进行数据传输，检测测试芯片的好坏，本实用新型通过按动按钮，解除卡杆与卡扣的卡紧连接，可以将芯片取出，完成快速测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及高灵活性芯片测试治具。

背景技术

电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路；从1949年到1957年，维尔纳·雅各比、杰弗里·杜默、西德尼·达林顿、樽井康夫都开发了原型，但现代集成电路是由杰克·基尔比在1958年发明的。其因此荣获2000年诺贝尔物理奖，但同时间也发展出近代实用的集成电路的罗伯特·诺伊斯，却早于1990年就过世；

在芯片生产中，会存在一些不良品在其中，性能不达标甚至不能使用，所述在生产芯片结束后需要用到测试治具对芯片进行测试。

但是，上述方案在使用中存在如下缺陷：传统的芯片治具在进行测试时，需要将芯片放入测试治具中进行测试，传统的测试治具在进行固定时间，需要对芯片位置进行校对，耗费时间长，使得芯片测试时间长，而且传统的测试治具常采用按压式对芯片进行固定，可能会对芯片造成损伤，挤压固定的力度也不能进行调节。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供高灵活性芯片测试治具，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

高灵活性芯片测试治具，包括：固定组件，所述固定组件包括有底座，所述底座内部设置有磁吸槽，所述磁吸槽内部磁力连接有磁吸脚；芯片测试治具本体，所述芯片测试治具本体包括有测试仓，所述测试仓下表面固定连接有磁吸脚，所述测试仓表面一侧固定连接有转杆，所述转杆外部活动连接有测试盖，所述测试仓上表面活动连接有测试盖，所述测试盖内部活动连接有丝杆，所述丝杆下端活动连接有传动板。

作为优选，所述丝杆上端固定连接有转盘，所述转盘上表面固定连接有把手。

作为优选，所述传动板下端固定连接有第一弹簧组，所述第一弹簧组下端固定连接有压板。

作为优选，所述测试仓底部固定安装有测试板，所述测试仓远离转杆的有一侧固定安装有USB接口。

作为优选，所述测试盖靠近USB接口的一侧下表面固定连接有卡扣，所述卡扣卡紧连接有卡杆。

作为优选，所述卡杆靠近转杆的一侧固定连接有联动杆，所述联动杆通过第二弹簧组活动安装于测试仓外壁内部，所述联动杆远离转杆的一端穿过测试仓外壁固定连接有按钮。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型通过磁吸槽可以磁吸脚进行磁力链接，使得芯片测试治具本体可以底座进行磁力链接固定，本实用新型通过转动丝杆可以调整传动板的高度，从而可以调整对芯片的压力，使得操纵人员可以根据需要调整测试治具的压力，通过将芯片放入测试仓内进行压紧操作后完成快速测试，本实用新型通过测试板进行与芯片进行连接，然后通过USB接口进行数据传输，通过数据线进行传输，检测测试芯片的好坏，本实用新型通过第二弹簧组使得联动杆可以受力，使得卡杆可以与卡扣进行拉紧连接，使得在进行芯片挤压测试时测试盖不会打开影响测试，通过按动按钮，解除卡杆与卡扣的卡紧连接，可以将芯片取出，完成快速测试。

附图说明