[实用新型]一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置

权利要求书

1.一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU连接的存储单元、FPGA、电流测量电路、供电电源，与所述FPGA连接的若干SSD2832桥接芯片、DDR3存储，与所述SSD2832桥接芯片电连接的MIPI接口；所述MIPI接口与待测显示模组的驱动IC电连接；所述供电电源用于给所述待测显示模组供电，所述电流测量电路用于检测所述供电电源供给待测显示模组的电流值。

2.根据权利要求1所述的一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，还包括：分别与所述主控MCU电连接的显示屏、按键。

3.根据权利要求1所述的一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，所述存储单元包括：SD接口，设置在所述SD接口上的SD卡；所述SD接口与所述主控MCU电连接。

4.根据权利要求1所述的一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，所述SSD2832桥接芯片电连接有LVDS接口、eDP接口。

5.根据权利要求1所述的一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，所述供电电源为AVDD电源或VDDIO电源或VCOM电源或VSP电源或VSN电源或VGH电源或VGL电源。

6.根据权利要求1所述的一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，所述主控MCU采用STM32系列32位单片机，所述FPGA采用Xilinx、Altera、Intel、紫光同创FPGA芯片。

7.根据权利要求2所述的一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，其特征在于，所述显示屏为LCD显示屏。