[实用新型]一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置

说明书

本实用新型公开一种支持MIPI C‑PHY显示模组老化测试装置，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU连接的存储单元、FPGA、电流测量电路、供电电源，与所述FPGA连接的若干SSD2832桥接芯片、DDR3存储，与所述SSD2832桥接芯片电连接的MIPI接口；所述MIPI接口与待测显示模组的驱动IC电连接。本实用新型既可用于MIPI D‑PHY接口屏幕的测试也可用于MIPI C‑PHY接口屏幕的测试，实用性强；可同时进行多个待测屏幕测试，有效提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及屏幕老化测试装置领域，尤其涉及一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置。

背景技术

MIPI C-PHY通过带宽受限的通道提供高吞吐量，将显示器连接到应用处理器。它为MIPI CSI-2和MIPI DSI-2生态系统提供PHY，使设计人员能够扩展实现支持各种更高分辨率的图像传感器和显示器，同时保持低功耗。由于MIPI D-PHY采用Data0、Data1、Data2、Data3、CLK的差分对线，一共10根线。而MIPI C-PHY则采用Data0、Data1、Data2的3组数据线，每组数据3条线共9线。C-PHY接口技术相比D-PHY可以提高屏幕刷新速率，用户使用屏幕刷新网页、浏览信息时会更加流畅。传统D-PHY接口屏幕刷屏速率在60Hz左右，而现在的C-PHY屏幕刷屏速率则在90Hz、120Hz左右。C-PHY接口屏幕对于老化测试设备的刷新频率要求较高，已有的D-PHY点亮架构不足以支撑高刷新速率的C-PHY屏幕，且已有的显示模组老化测试装置无法同时进行多个屏幕的测试，老化测试效率低。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，解决现有技术中，已有D-PHY点亮架构无法支撑C-PHY屏幕测试的问题，同时解决测试效率低的问题。

本实用新型的技术方案如下：一种支持MIPI C-PHY显示模组老化测试装置，包括：主控MCU，分别与所述主控MCU连接的存储单元、FPGA、电流测量电路、供电电源，与所述FPGA连接的若干SSD2832桥接芯片、DDR3存储，与所述SSD2832桥接芯片电连接的MIPI接口；所述MIPI接口与待测显示模组的驱动IC电连接；所述供电电源用于给所述待测显示模组供电，所述电流测量电路用于检测所述供电电源供给待测显示模组的电流值；所述SSD2832桥接芯片用于将图片数据转换成MIPI C-PHY格式图片数据或MIPI D-PHY格式图片数据，并通过SSD2832桥接芯片、MIPI接口发送给待测显示模组的驱动IC；所述主控MCU用于向所述待测显示模组的驱动IC发送OX11、OX29指令。主控MCU从存储单元上获取二进制格式的图片数据，并将该图片数据发送给FPGA，通过FPGA将其转换为RGB格式图片，并将RGB格式图片数据存储在DDR3存储上，当需要点亮MIPI C-PHY接口屏幕或MIPI D-PHY接口屏幕时，FPGA将缓存在DDR3存储上的RGB格式图片数据发送给SSD2832桥接芯片，SSD2832桥接芯片将RGB格式图片数据转换成MIPI C-PHY格式图片数据或MIPI D-PHY格式图片数据，并通过MIPI接口将MIPI C-PHY格式图片数据或MIPID-PHY格式图片数据发送给待测显示模组的驱动IC，待测显示模组的驱动IC保存MIPI C-PHY格式图片数据或MIPI D-PHY格式图片数据，进一步通过主控MCU向待测显示模组的驱动IC发送OX11、OX29指令，待测显示模组的驱动IC驱动待测屏幕退出睡眠模式，唤醒待测屏幕，待测屏幕点亮，并以二进制格式图片的形式显示待测显示模组的驱动IC所存储的图片，完成测试，简单快速，且既可用于MIPI D-PHY接口屏幕的测试也可用于MIPI C-PHY接口屏幕的测试，实现两种方式的兼容，实用性强；在测试过程中，若发现供电电源供给待测显示模组的电流过大，则会有蜂鸣器警报或是自动切断待测显示模组的供电，以防电流过大而烧毁待测屏幕；另一方面，FPGA可同时连接多个SSD2832桥接芯片，每一个SSD2832桥接芯片均连接一待测显示模组中的一待测屏幕驱动IC，可同时进行多个待测屏幕测试，有效提高测试效率。