[实用新型]一种芯片封装用引脚检测装置有效
申请号: | 202120525238.1 | 申请日: | 2021-03-12 |
公开(公告)号: | CN214477340U | 公开(公告)日: | 2021-10-22 |
发明(设计)人: | 陈益群;季伟;徐刚;陈泓翰 | 申请(专利权)人: | 深圳群芯微电子有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/687 |
代理公司: | 深圳市道勤知酷知识产权代理事务所(普通合伙) 44439 | 代理人: | 何兵;吕诗 |
地址: | 518000 广东省深圳市福田区华强北街道*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 封装 引脚 检测 装置 | ||
1.一种芯片封装用引脚检测装置,包含高脚架(1)、装载架(2)、检测组件(3)、低脚架(4)、牵引组件(5)及芯片封装本体(7),所述高脚架(1)的上表面对称地固定安装有装载架(2),且装载架(2)间转动安装有检测组件(3),所述高脚架(1)的一侧固定安装有低脚架(4),且低脚架(4)的上表面固定安装有牵引组件(5),所述高脚架(1)与低脚架(4)间设有芯片封装本体(7),且检测组件(3)与芯片封装本体(7)配合,其特征在于:所述高脚架(1)与低脚架(4)间固定安装有具有确保芯片封装本体(7)接收检测时高度稳定的装夹组件(6)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片封装用引脚检测装置,其特征在于:所述检测组件(3)包括万用表(31)、接头(32)、线缆(33)及检测笔(34),所述装载架(2)间转动安装有万用表(31),且万用表(31)底部的一侧固定安装有接头(32),所述线缆(33)通过接头(32)与万用表(31)电性连接,且线缆(33)远离接头(32)一端与检测笔(34)固定连接,所述检测笔(34)笔尖处与芯片封装本体(7)挤压接触。
3.根据权利要求2所述的一种芯片封装用引脚检测装置,其特征在于:所述检测笔(34)的笔尖处外侧固定安装有海绵垫块。
4.根据权利要求2所述的一种芯片封装用引脚检测装置,其特征在于:所述牵引组件(5)包括电机(51)、承载块(52)、转轴(53)、齿轮(54)、直板(55)、齿条(56)及固定箍(57),所述低脚架(4)上表面一侧固定安装有电机(51),且低脚架(4)上表面远离电机(51)一侧对称地固定安装有承载块(52),所述承载块(52)上转动安装有转轴(53),且转轴(53)的一端与电机(51)输出端固定连接,所述转轴(53)上对称地固定安装有齿轮(54),所述低脚架(4)一侧固定安装有直板(55),且直板(55)上对称地滑动安装有齿条(56),所述齿条(56)与齿轮(54)配合,且齿条(56)远离齿轮(54)一侧对称地固定安装有固定箍(57),所述检测笔(34)通过固定箍(57)与齿条(56)固定连接。
5.根据权利要求4所述的一种芯片封装用引脚检测装置,其特征在于:所述直板(55)与低脚架(4)的连接处固定安装有加强筋。
6.根据权利要求1所述的一种芯片封装用引脚检测装置,其特征在于:所述装夹组件(6)包括底板(61)、滑槽(62)、滑块(63)、装夹座(64)、螺纹孔(65)及六角螺栓(66),所述高脚架(1)与低脚架(4)间固定安装有底板(61),且底板(61)上表面对称地开设有滑槽(62),所述滑槽(62)中滑动连接有滑块(63),且滑块(63)远离滑槽(62)一侧固定安装有装夹座(64),所述芯片封装本体(7)架设在装夹座(64)上,且装夹座(64)一侧对称地开设有螺纹孔(65),所述螺纹孔(65)上配合有六角螺栓(66),所述六角螺栓(66)的螺帽处与芯片封装本体(7)挤压接触,所述底板(61)远离低脚架(4)一侧对称地固定安装有手柄(67)。
7.根据权利要求6所述的一种芯片封装用引脚检测装置,其特征在于:所述底板(61)远离低脚架(4)一侧对称地固定安装有手柄。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳群芯微电子有限责任公司,未经深圳群芯微电子有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202120525238.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:定子骨架组件和包括其的步进电机
- 下一篇:一种长条形装饰琥珀吊坠
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造