[实用新型]一种实时测量测深尺有效
申请号: | 202120546518.0 | 申请日: | 2021-03-16 |
公开(公告)号: | CN214426801U | 公开(公告)日: | 2021-10-19 |
发明(设计)人: | 潘博玑;陈庆俊;陈耀辉;杨德才;杨云峰 | 申请(专利权)人: | 广州星际海洋工程设计有限公司 |
主分类号: | G01F23/42 | 分类号: | G01F23/42 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 颜希文;刘慧丽 |
地址: | 511458 广东省广州市南沙区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 实时 测量 测深 | ||
1.一种实时测量测深尺,其特征在于,包括壳体和设置于壳体下部的浮块,所述壳体的上部成排间隔设有左卷尺结构和右卷尺结构,所述左卷尺结构上设有左卷尺,所述右卷尺结构上设有右卷尺,所述壳体的左侧设有驱动所述左卷尺结构转动以收放所述左卷尺的左把手,所述壳体的右侧设有驱动所述右卷尺结构转动以收放所述右卷尺的右把手,所述左卷尺的自由端与所述右卷尺的自由端连接形成卷尺环,所述浮块的上部设有用于所述卷尺环穿过的滚动件。
2.如权利要求1所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述滚动件为转动设在所述浮块上的滚轮。
3.如权利要求1所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述壳体的内壁上固定设有密度校准件,所述卷尺环穿过所述密度校准件。
4.如权利要求3所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述密度校准件包括固定设在所述壳体内壁的支架和设在所述支架上的密度校准标尺,所述支架与所述密度校准标尺之间预留有上下贯通的间隔,所述卷尺环上下穿过所述间隔。
5.如权利要求1所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述浮块上设有1.0标准刻度线。
6.如权利要求1所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述壳体包括上壳体和下壳体,所述上壳体与所述下壳体之间设有通孔;
所述左卷尺和所述右卷尺均穿过所述通孔延伸至所述下壳体内。
7.如权利要求1所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述左把手和所述右把手均包括依次连接的手握段、衔接段和配合段,所述手握段和所述配合段平行且延伸方向相反,所述衔接段垂直于所述手握段和所述配合段;
所述左把手的配合段匹配安装在所述左卷尺结构的中心;
所述右把手的配合段匹配安装在所述右卷尺结构的中心。
8.如权利要求7所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述左把手的配合段具有避让孔,所述右把手的配合段的端部插入到所述避让孔内。
9.如权利要求1所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述左把手上或所述右把手上设有卷尺拧紧结构。
10.如权利要求9所述的实时测量测深尺,其特征在于,所述卷尺拧紧结构设在左把手上,所述左卷尺安装在所述左把手上,所述左把手上具有左把手配合段,所述卷尺拧紧结构包括设在左把手配合段的端部且左右方向延伸的左把手拧紧螺栓,所述左把手配合段的侧面设有竖直方向布置的左把手拧紧柱,所述左把手拧紧螺栓的端部为由右至左直径逐渐增加的锥形状。
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