[实用新型]一种IC级原硅片研磨盘有效

专利信息
申请号: 202120550349.8 申请日: 2021-03-17
公开(公告)号: CN214685936U 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 郭城;吕明;李充;王永超;李加美 申请(专利权)人: 济南科盛电子有限公司
主分类号: B24B37/11 分类号: B24B37/11;B24B37/34
代理公司: 山东瑞宸知识产权代理有限公司 37268 代理人: 王萍
地址: 250200 山东省济南*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 ic 硅片 研磨
【说明书】:

本实用新型涉及半导体研磨的技术领域,公开了一种IC级原硅片研磨盘,包括研磨盘和旋转盘,所述旋转盘设置两个,分别同心设置在研磨盘的上部和下部;所述研磨盘上的中心设置有第一中心定位孔,所述研磨盘上还设有第一沉孔和流液孔,所述第一沉孔和流液孔分别绕中心定位孔设置;所述第一旋转盘和第二旋转盘上分别设有第二中心定位孔、第二沉孔、周向流道和径向流道,且所述第一旋转盘和第二旋转盘的外侧壁上固定连接有手柄,所述第一旋转盘上表面铰接有保护盖,所述第二旋转盘的下表面铰接有保护盖。本IC级原硅片研磨盘上下设置有保护盖,放置研磨时研磨液溢出,且可同时研磨两个硅片,研磨效率得到提升。

技术领域

本实用新型涉及半导体研磨的技术领域,尤其涉及一种IC级原硅片研磨盘。

背景技术

硅片是制作集成电路的重要材料,通过对硅片进行光刻、离子注入等手段,可以制成各种半导体器件,硅片已广泛应用于航空航天、工业、农业和国防领域,硅片加工过程中需要经过研磨工序,通常采用硅片研磨机对硅片进行研磨处理。

但现有的研磨机设备中,在研磨过程中研磨液容易洒出,无法均匀的分布到研磨盘表面,也会造成污染,会对后续的加工产生影响,降低硅片质量,影响研磨精度;同时目前的研磨盘一次只能研磨一个硅片,研磨效率低,增加了生产成本。

发明内容

为解决上述问题,本实用新型提出一种IC级原硅片研磨盘。

本实用新型提供一种IC级原硅片研磨盘,采用如下的技术方案:

一种IC级原硅片研磨盘,包括研磨盘和旋转盘,所述旋转盘设置两个,分别为第一旋转盘和第二旋转盘,所述第一旋转盘和第二旋转盘分别同心设置在研磨盘的上部和下部;所述研磨盘为圆柱体,所述研磨盘上的中心设置有第一中心定位孔,且所述研磨盘上还设有第一沉孔和流液孔,所述第一沉孔和流液孔分别绕中心定位孔等距设置若干个;所述第一旋转盘和第二旋转盘均为圆柱体,所述第一旋转盘和第二旋转盘上分别设有第二中心定位孔、第二沉孔、周向流道和径向流道,且所述第一旋转盘和第二旋转盘的外侧壁上固定连接有手柄,所述第一旋转盘上表面铰接有保护盖,所述第二旋转盘的下表面铰接有保护盖。

通过采用上述技术方案,第一旋转盘和第二旋转盘分别同心设置在研磨盘的上部和下部,可同时研磨两个硅片,提高研磨效率;旋转盘上设置径向流道和周向流道的两种流道,使得研磨液可以在研磨盘各方向上均匀分布;研磨盘上等距设置若干个流液孔,能够使研磨液更均匀的进入研磨盘中,同时也可以使研磨液分散过程更迅速;第一旋转盘上表面铰接有保护盖,所述第二旋转盘的下表面铰接有保护盖,保证研磨液在研磨的过程中不会洒出。

优选的,所述研磨盘、第一旋转盘和第二旋转盘的直径相等。

优选的,所述第一中心定位孔、第一沉孔和流液孔均为通孔,且所述第一中心定位孔、第一沉孔和流液孔的轴线与研磨盘的轴线相平行。

优选的,所述旋转盘的中心设置第二中心定位孔,所述第二沉孔绕第二中心定位孔等距设置若干个。

优选的,所述第二中心定位孔和第二沉孔均为通孔,且所述第二中心定位孔和第二沉孔的轴线与旋转盘的轴线相平行。

优选的,所述周向流道和径向流道上下贯通,所述周向流道为圆环体,所述径向流道为长方体,所述周向流道和径向流道的轴线与旋转盘的轴线相平行。

优选的,所述保护盖为圆柱体,所述保护盖的直径与旋转盘直径相等,所述保护盖的轴线与旋转盘的轴线相平行

综上所述,本实用新型的有益技术效果:

1.第一旋转盘和第二旋转盘分别同心设置在研磨盘的顶部和底部,可以同时将两个硅片在研磨盘和旋转盘之间进行研磨,提高研磨效率,同时也减少使用研磨盘的数量,节约成本。

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