[实用新型]一种电子元件的缺针测试治具

权利要求书

1.一种电子元件的缺针测试治具，包括测试框架（1）、测试槽（2）、针槽（3）、架体调节滑槽（4）、调节滑块（5）、夹持架（6）、螺纹调节滑槽（7）、螺纹滑块（8）、螺纹杆（9）、夹持板（10）、弹性垫片（11）、连接线（12）、观察架（13）、感应灯（14）、安装槽（15）、安装滑块（16）和电池体（17），其特征在于：所述测试框架（1）的内部开设有测试槽（2），且测试槽（2）的内部设置有针槽（3），所述测试框架（1）的前后两端均开设有架体调节滑槽（4），且架体调节滑槽（4）的内部连接有调节滑块（5），所述调节滑块（5）的顶部连接有夹持架（6），且夹持架（6）的内部开设有螺纹调节滑槽（7），所述螺纹调节滑槽（7）的内部连接有螺纹滑块（8），且螺纹滑块（8）的内部连接有螺纹杆（9），所述螺纹滑块（8）的一侧端部连接有夹持板（10），且夹持板（10）的底部连接有弹性垫片（11），所述测试框架（1）的一侧连接有连接线（12），且连接线（12）的一侧连接有观察架（13），所述观察架（13）的内部安装有感应灯（14），且观察架（13）的一侧开设有安装槽（15），所述安装槽（15）的内部连接有安装滑块（16），所述安装滑块（16）的一侧端部连接有电池体（17）。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件的缺针测试治具，其特征在于：所述针槽（3）关于测试槽（2）的内部呈等距均匀分布，且测试槽（2）为圆孔型结构。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件的缺针测试治具，其特征在于：所述夹持架（6）与调节滑块（5）之间为固定连接，且夹持架（6）通过调节滑块（5）和架体调节滑槽（4）与测试框架（1）之间构成滑动结构，所述夹持板（10）与螺纹滑块（8）之间为固定连接，且夹持板（10）通过螺纹滑块（8）和螺纹调节滑槽（7）与夹持架（6）之间构成滑动结构，并且弹性垫片（11）与夹持板（10）之间为粘合连接。

4.根据权利要求1所述的一种电子元件的缺针测试治具，其特征在于：所述螺纹杆（9）贯穿于螺纹滑块（8）的内部，且螺纹杆（9）与夹持架（6）之间为活动连接。

5.根据权利要求1所述的一种电子元件的缺针测试治具，其特征在于：所述针槽（3）通过连接线（12）与感应灯（14）之间为电性连接，且针槽（3）与感应灯（14）之间一一对应。

6.根据权利要求1所述的一种电子元件的缺针测试治具，其特征在于：所述电池体（17）与安装滑块（16）之间为螺纹连接，且电池体（17）通过安装滑块（16）和安装槽（15）与观察架（13）之间构成滑动结构。

7.根据权利要求1所述的一种电子元件的缺针测试治具，其特征在于：所述电池体（17）与感应灯（14）之间为电性连接，且感应灯（14）与观察架（13）之间为螺纹连接。