[实用新型]一种电子元件的缺针测试治具

说明书

本实用新型公开了一种电子元件的缺针测试治具，包括测试框架、测试槽、针槽、架体调节滑槽、调节滑块、夹持架、螺纹调节滑槽、螺纹滑块、螺纹杆、夹持板、弹性垫片、连接线、观察架、感应灯、安装槽、安装滑块和电池体，所述测试框架的内部开设有测试槽，且测试槽的内部设置有针槽，所述测试框架的前后两端均开设有架体调节滑槽，且架体调节滑槽的内部连接有调节滑块，所述螺纹滑块的一侧端部连接有夹持板，且夹持板的底部连接有弹性垫片，所述安装滑块的一侧端部连接有电池体。该电子元件的缺针测试治具通过与针槽对应的感应灯能够让其进行通电感应，从而当针脚坏时感应灯不通电，针脚好时顺利通电，感应灯亮起从而达到检测的目的。

技术领域

本实用新型涉及电子元件技术领域，具体为一种电子元件的缺针测试治具。

背景技术

电子元件，是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路，例如：放大器、无线电接收机、振荡器等，连接电子元件常见的方式之一是焊接到印刷电路板上。电子元件也许是单独的封装（电阻器、电容器、电感器、晶体管、二极管等），或是各种不同复杂度的群组，例如：集成电路（运算放大器、排阻、逻辑门等），现有的电子元件缺针测试治具，测试时需要对针脚一个一个检测很是麻烦，且测试时一般手持不是很稳定，不能很好的满足人们的使用需求，针对上述情况，在现有的电子元件缺针测试治具基础上进行技术创新。

实用新型内容

针对现有技术中存在的上述不足之处，本实用新型目的是提供一种电子元件的缺针测试治具。

本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是：一种电子元件的缺针测试治具，包括测试框架、测试槽、针槽、架体调节滑槽、调节滑块、夹持架、螺纹调节滑槽、螺纹滑块、螺纹杆、夹持板、弹性垫片、连接线、观察架、感应灯、安装槽、安装滑块和电池体，所述测试框架的内部开设有测试槽，且测试槽的内部设置有针槽，所述测试框架的前后两端均开设有架体调节滑槽，且架体调节滑槽的内部连接有调节滑块，所述调节滑块的顶部连接有夹持架，且夹持架的内部开设有螺纹调节滑槽，所述螺纹调节滑槽的内部连接有螺纹滑块，且螺纹滑块的内部连接有螺纹杆，所述螺纹滑块的一侧端部连接有夹持板，且夹持板的底部连接有弹性垫片，所述测试框架的一侧连接有连接线，且连接线的一侧连接有观察架，所述观察架的内部安装有感应灯，且观察架的一侧开设有安装槽，所述安装槽的内部连接有安装滑块，所述安装滑块的一侧端部连接有电池体。

所述针槽关于测试槽的内部呈等距均匀分布，且测试槽为圆孔型结构。

所述夹持架与调节滑块之间为固定连接，且夹持架通过调节滑块和架体调节滑槽与测试框架之间构成滑动结构，所述夹持板与螺纹滑块之间为固定连接，且夹持板通过螺纹滑块和螺纹调节滑槽与夹持架之间构成滑动结构，并且弹性垫片与夹持板之间为粘合连接。

所述螺纹杆贯穿于螺纹滑块的内部，且螺纹杆与夹持架之间为活动连接。

所述针槽通过连接线与感应灯之间为电性连接，且针槽与感应灯之间一一对应。

所述电池体与安装滑块之间为螺纹连接，且电池体通过安装滑块和安装槽与观察架之间构成滑动结构。

所述电池体与感应灯之间为电性连接，且感应灯与观察架之间为螺纹连接。

本实用新型的有益效果：

1、通过设置的针槽能够让电子器件的针脚进行插入，从而对电器器件的针脚进行检测，多组设置的针槽能够根据电器件针脚的数量进行契合，从而方便对电器件的检测；通过能够进行横向滑动的夹持架能让夹持架进行快速移动，从而根据需要对夹持架进行滑动调节，从而方便对电器件的夹持，通过滑动的夹持板能够对电器进行进行有效夹持，从而提高电器件的稳定效果，通过设置的弹性垫片能够让夹持板与电器件之间形成良好的受力面，从而提高夹持的效果；