[实用新型]元件拾取装置

说明书

本实用新型揭示了一种元件拾取装置。所述元件拾取装置包括：主支架；可同步作业的若干拾取机构，沿横向并排且活动地安装于所述主支架；横向辅助调节机构，相对所述主支架于横向上运动，以与所述若干拾取机构择一对应；并且与所对应的所述拾取机构呈配接状态、同时与其余所述拾取机构呈脱开状态；横轴驱动件，驱动所述主支架与所述横向辅助调节机构于横向上相对运动，以使所述横向辅助调节机构带动呈所述配接状态的拾取机构相对其余所述拾取机构在横向上相对位移。如此，可以实现多个元件的同时拾取，提升拾取效率；并且，可以选择性地对任意一个拾取机构进行横向调节，提高元件拾取装置的通用性和灵活性。

技术领域

本实用新型涉及一种元件拾取装置，属于元件的搬运技术领域。

背景技术

半导体芯片是指在半导体片材上进行浸蚀、布线，制成能实现某种功能的半导体器件，随着半导体技术的发展，芯片复杂度也越来越高，为了保证出厂芯片的质量，需要在出厂前进行功能性测试以确保芯片功能的完整性，以实现对芯片质量的有效把控，促进半导体行业的发展。

芯片的检测通常是依赖测试设备实现自动检测的目的，检测前，芯片按照行列矩阵码放在料盘内，通过拾取装置拾取芯片至检测单元处进行逻辑功能测试。

现有技术的拾取装置基本采用的都是单一拾取形式，亦即每个拾取装置配置一个拾取机构，每次只能采用该拾取机构对一个芯片进行拾取，因此需要多次重复工作，检测检测效率低下，从而对整条检测线的检测效率产生严重影响。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种元件拾取装置，可以对多个元件同时进行拾取，解决现有技术所存在的拾取效率低下的问题。

为实现上述实用新型目的，一实施方式提供了一种元件拾取装置。所述元件拾取装置包括：

主支架；

可同步作业的若干拾取机构，沿横向并排且活动地安装于所述主支架；

横向辅助调节机构，相对所述主支架于横向上运动，以与所述若干拾取机构择一对应；并且与所对应的所述拾取机构呈配接状态、同时与其余所述拾取机构呈脱开状态；

横轴驱动件，驱动所述主支架与所述横向辅助调节机构于横向上相对运动，以使所述横向辅助调节机构带动呈所述配接状态的拾取机构相对其余所述拾取机构在横向上相对位移。

进一步优选的，所述横向辅助调节机构包括：

驱动件，其数目设置为一个；

与所述驱动件相连接的配接件，在所述驱动件的驱动下纵向伸出，以与所对应的所述拾取机构由所述脱开状态变化为所述配接状态；所述配接件包括横向相对设置的两个卡臂，在与一个所述拾取机构呈所述配接状态时，两个所述卡臂于横向两侧夹持该拾取机构。

进一步优选的，每个所述拾取机构设置有锁定结构，所述主支架设置有与每个所述锁定结构相匹配的锁止部；

当所述拾取机构呈所述配接状态时，其锁定结构脱离开所述锁止部，以允许所述拾取机构在第一致动力作用下相对所述主支架横向移动；

当所述拾取机构呈所述脱开状态时，其锁定结构配合于所述锁止部，以阻止所述拾取机构在所述第一致动力作用下相对所述主支架横向移动。

进一步优选的，所述锁止部为在所述主支架上横向连续设置的凹凸结构；

所述拾取机构包括与所述主支架通过导轨结构横向滑动连接的基座，所述锁定结构包括活动安装于所述基座的阻块和设置于所述阻块和所述基座之间的弹性体；

当所述拾取机构呈所述脱开状态时，在所述弹性体的弹力作用下，所述阻块抵持于所述锁止部；

当所述拾取机构呈所述配接状态时，所述阻块克服所述弹性体的弹力作用以与所述锁止部相分离。