[实用新型]一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置有效
申请号: | 202120656681.2 | 申请日: | 2021-03-31 |
公开(公告)号: | CN214792963U | 公开(公告)日: | 2021-11-19 |
发明(设计)人: | 谢春旭;张军;徐艳春;张义洲;王俊博 | 申请(专利权)人: | 大陆汽车电子(连云港)有限公司 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00;G01B7/30;G01C9/00 |
代理公司: | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人: | 汤国华 |
地址: | 222006 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 具有 电子 激励 传感器 芯片 位置 检查 装置 | ||
1.一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,包括:多角度电子激励模块、安装治具、传感器供电及负载模块、相位采集和处理模块、芯片位置检查模块、供电模块;其中,
所述多角度电子激励模块电性连接所述芯片位置检查模块并为待测传感器提供多角度的电子激励信号;
所述安装治具将所述待测传感器固定在电子激励信号位置;
所述传感器供电及负载模块电性连接所述待测传感器并为所述待测传感器提供电源及工作负载;
所述相位采集和处理模块分别电性连接所述待测传感器和所述芯片位置检查模块以采集并处理所述待测传感器输出的相位信号,并将处理后的相位信号传输至所述芯片位置检查模块;
所述芯片位置检查模块包括主控电脑及安装于主控电脑的芯片位置检查单元,以接收所述相位采集和处理模块输出的相位信号,并对所述相位信号进行测量和计算以确定所述待测传感器内的芯片位置状态;
所述供电模块分别与所述待测传感器供电及负载模块、所述相位采集和处理模块、所述芯片位置检查模块及所述多角度电子激励模块电性连接。
2.如权利要求1所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述多角度电子激励模块由线圈系统组成,所述线圈系统包括两组正交设置的线圈组。
3.如权利要求1所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述多角度电子激励模块由线圈系统组成,所述线圈系统可以产生两对共四个方向的交变磁场,提供0度、90度、180度及270度共四个角度的电子激励信号。
4.如权利要求1所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述待测传感器固定安装在所述多角度电子激励模块的两组线圈正交设置的中间位置。
5.如权利要求1所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述传感器供电及负载模块包括直流稳压电源、负载电阻、负载电容及自定义负载保护电路。
6.如权利要求1所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述相位采集和处理模块包括信号采集卡及信号调理电路;其中,所述信号采集卡与待测传感器连接并用于采集待测传感器输出的相位信号;信号调理电路与信号采集卡连接用于接收并动态分析所述相位信号以滤除相位信号中的毛刺。
7.如权利要求1-6中任一项所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述芯片位置检查模块测量和计算所述相位信号的相位角度和相位角度差,并将所述相位角度差与预设检查阈值比较,以确定芯片的位置是否发生偏移或倾斜。
8.如权利要求1-6中任一项所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,芯片位置检查单元可以设置和调度所述多角度电子激励模块、传感器供电及负载模块、相位采集和处理模块,并能够对所述相位信号进行测量和计算以确定所述待测传感器内的芯片位置状态。
9.如权利要求8所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述芯片位置检查单元测量和计算所述相位信号的相位角度和相位角度差,并将所述相位角度差与预设检查阈值比较,以确定芯片的位置是否发生偏移或倾斜。
10.如权利要求8所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述芯片位置检查模块还包括安装于主控电脑的电子激励同步单元,所述电子激励同步单元能够接收所述芯片位置检查单元的指令和配置参数以同步和校准所述多角度电子激励模块的电子激励信号。
11.如权利要求1-6中任一项所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述芯片位置检查模块还包括结果显示屏和结果显示灯;所述结果显示屏用于显示芯片位置检查单元输出的中间信息和结果信息;所述结果显示灯用于指示检查是否完成。
12.如权利要求1-6中任一项所述的一种具有电子激励的传感器芯片位置检查装置,其特征在于,所述传感器具体为曲轴传感器、凸轮轴传感器、轮速传感器或转速传感器。
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