[实用新型]一种芯片检测机构的上下料装置有效
申请号: | 202120660344.0 | 申请日: | 2021-03-30 |
公开(公告)号: | CN215796825U | 公开(公告)日: | 2022-02-11 |
发明(设计)人: | 王鹤立;刘汉奎;李强 | 申请(专利权)人: | 深圳市鸿义通仪测有限公司 |
主分类号: | B65G47/74 | 分类号: | B65G47/74 |
代理公司: | 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 | 代理人: | 祝晶 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 检测 机构 上下 装置 | ||
1.一种芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,包括承载机构、限位机构、拨盘机构、料盘;
所述承载机构包括:侧板和托臂;所述托臂与所述侧板垂直,所述托臂的一端与所述侧板滑动连接,所述托臂可沿所述侧板高度方向滑动;
所述限位机构包括:底板、固定挡板、活动挡板;所述底板与所述侧板垂直,所述底板的一端与所述侧板的底端连接,所述固定挡板固定于所述底板远离所述侧板的一端,所述活动挡板设于所述底板靠近所述侧板的一端,所述活动挡板的底部与所述底板滑动连接,所述活动挡板朝靠近或远离所述侧板的方向滑动,所述托臂远离所述侧板的一端穿过所述活动挡板位于所述固定挡板和所述活动挡板之间;
所述拨盘机构设置于所述活动挡板的顶部,所述料盘设置于所述托臂远离所述侧板的一端,所述拨盘机构用于拨动料盘脱离所述托臂。
2.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述承载机构还包括:第一传动装置,所述第一传动装置设置于所述侧板的中部,所述托臂靠近所述侧板的一端与所述第一传动装置固定连接。
3.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述托臂远离所述侧板的一端上活动设有一对夹座,一对所述夹座与所述料盘适配,一对所述夹座可相互贴合或分离。
4.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述限位机构还包括:第二传动装置,所述第二传动装置固定于所述底板的一侧部,所述活动挡板的底部侧面与所述第二传动装置固定连接。
5.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述拨盘机构包括:升降气缸,拨盘滑轨、拨片;所述升降气缸设有两个并分别与所述活动挡板固定连接,两个所述气缸的输出端分别与所述拨盘滑轨的两端部固定连接,所述拨盘滑轨上滑动设有拨盘滑块,所述拨片与所述拨盘滑块固定连接。
6.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述活动挡板的顶部分别设有位置检测装置及分离检测装置,所述位置检测装置用于检测所述料盘的位置,所述分离检测装置用于检测料盘是否分离。
7.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述活动挡板及所述固定挡板的顶部上分别设有用于取放所述料盘的取放机构,每个所述取放机构包括:一对插片、运动件、取放气缸;所述取放气缸与对应的挡板固定连接,所述取放气缸的输出端与所述运动件的一侧固定连接,一对所述插片的一端分别与所述运动件的两端固定连接。
8.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述料盘呈矩形,所述料盘上设有若干芯片槽,所述料盘的周侧上分别设有至少两个插槽。
9.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,所述固定挡板的底部上还固定有连接块,所述连接块远离所述固定挡板的一端与所述侧板固定连接。
10.根据权利要求1所述的芯片检测机构的上下料装置,其特征在于,还包括机壳,所述机壳的一侧顶部上设有启动键、复位键、上下料件、停止键、紧急键、显示屏,所述机壳的顶部还设有翻盖。
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