[实用新型]一种检测光源及缺陷检测系统有效

专利信息
申请号: 202120693990.7 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN214894905U 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 邹波 申请(专利权)人: 东莞市沃德普自动化科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/01
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 牛亭亭
地址: 523000 广东省东莞市南城区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测 光源 缺陷 系统
【说明书】:

实用新型公开了一种检测光源及缺陷检测系统,包括镜筒、灯珠组件和光阑,所述灯珠组件包括设于所述镜筒前端的基板,所述基板上均匀布置有至少两个灯珠,所述至少两个灯珠均等分为至少两个照明组,所述至少两个照明组关于所述检测光源的光轴对称;所述光阑设于所述镜筒的末端;所述镜筒内还设有用于调整光线发散角的光束调节结构,所述光束调整结构安装于所述灯珠组件和所述光阑之间。本实用新型在检测光源中设置至少两个照明组,在进行缺陷检测时令照明组依次呈倾斜地照射于待测元件的表面,增强了待测元件表面缺陷的对比度并减小了图像中待测元件的表面噪声,从而实现细微特征的检测。

技术领域

本实用新型涉及机器视觉技术领域,尤其涉及一种检测光源及缺陷检测系统。

背景技术

随着生活水平的提高,人们对于各类产品的要求已不仅限于产品的性能,对其外观的要求也日渐提高,尤其是对于高价值产品来说,即使是细微的外观缺陷也可能会带来致命的影响,因此物体的表面缺陷检测是质量检测工序中极为重要的一环。

目前进行表面缺陷检测时,常常利用相机拍摄照片,再对拍摄所得的图像进行分析,从而获得待测物体表面的缺陷检测结果。这种检测方式在缺陷较为明显时问题不大,但难以检测出较为细微的缺陷,导致缺陷检测结果不够准确,容易影响产品质量。

实用新型内容

针对现有技术的不足,本实用新型提供一种检测光源及缺陷检测系统,解决现有技术中的缺陷检测技术难以检测细微特征,导致缺陷检测结果不够准确的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供以下的技术方案:

一种检测光源,包括镜筒、灯珠组件和光阑,所述灯珠组件包括设于所述镜筒前端的基板,所述基板上均匀布置有至少两个灯珠,所述至少两个灯珠均等分为至少两个照明组,所述至少两个照明组关于所述检测光源的光轴对称;所述光阑设于所述镜筒的末端;

所述镜筒内还设有用于调整光线发散角的光束调节结构,所述光束调整结构安装于所述灯珠组件和所述光阑之间。

可选地,所述光束调节结构包括第一球面镜和第二球面镜;

所述第一球面镜设于所述镜筒内,将所述镜筒分为第一光学腔和第二光学腔,所述灯珠组件设于所述第一光学腔的前端,所述光阑设于所述第二光学腔的末端;

所述第二球面镜设于所述第二光学腔内,且所述第二球面镜位于所述光阑的内侧。

可选地,所述光束调节结构包括设于所述光阑内侧的自由曲面镜。

可选地,所述镜筒的前端设有散热底座,所述散热底座的前端设有散热片,所述散热底座的末端安装有所述基板。

可选地,所述镜筒的内壁设有消光螺纹。

可选地,所述镜筒的内壁涂布有消光漆或铺设有消光绒布。

本实用新型还提供了一种缺陷检测系统,包括如上任一项所述的检测光源,还包括:

用于放置待测元件的检测平台;所述检测光源包括至少两个照明组,所述照明组依次点亮时产生照明光束,所述照明光束倾斜照射于所述待测元件的表面;

用于在所述照明光束照射所述待测元件时采集图像的成像装置,所述成像装置设于所述待测元件的上方;

与所述成像装置连接的处理器,用于获取并合成所述成像装置采集的图像,检测所述待测元件的表面缺陷。

可选地,所述检测平台上设有第一安装柱和第二安装柱,所述检测光源固定于所述第一安装柱,所述成像装置固定于所述第二安装柱。

可选地,所述成像装置包括镜头,所述照明光束与所述镜头的光轴之间的夹角为20~45°。

可选地,所述检测平台上设有:

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