[实用新型]一种等离子体处理设备有效

专利信息
申请号: 202120694350.8 申请日: 2021-04-06
公开(公告)号: CN214898327U 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 吉雅泰;刘洋;何俊青 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01L21/67
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 刘恋;张颖玲
地址: 430074 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 等离子体 处理 设备
【说明书】:

本申请实施例提供一种等离子体处理设备,包括安装基座、室体组件、盖组件以及进气管。室体组件安装于安装基座。盖组件与室体组件围设成工艺腔,盖组件与室体组件可拆卸连接。进气管的一端与室体组件连接,进气管配置为经室体组件向工艺腔供气。由于进气管与室体组件连接并经室体组件向工艺腔供气,进气管中的气流不会从盖组件进入工艺腔,盖组件与进气管之间不存在气体泄漏的问题。当需要进行设备维护对室体组件内部进行清洁,在盖组件从室体组件上拆下的过程中,不涉及进气管在密封位置处的拆装,在一定程度上提高了工艺腔的密封性,降低了因密封圈更换而增加的成本。

技术领域

本申请涉及半导体技术领域,尤其涉及一种等离子体处理设备。

背景技术

晶圆键合技术可以将两块经过抛光的晶圆紧密粘结在一起,这种技术被广泛应用于3D集成电路和微电机系统中,目前晶圆键合的工艺流程中,在粘合之前要通过等离子体轰击晶圆将晶圆进行表面活化,以便在后续的键合工艺中能够将晶圆较好地粘合在一起,等离子体轰击过程在室体组件和盖组件围设成的工艺腔内进行,轰击过程中工艺腔内要保持相对恒定的气体压强,这取决于工艺腔是否具有较好的密封性。然而,相关技术中,等离子体处理设备的工艺腔可能存在密封性较差的问题。

实用新型内容

有鉴于此,本申请实施例期望提供一种等离子体处理设备,以提高工艺腔的密封性。

为达到上述目的,本申请实施例提供一种等离子体处理设备,包括:

安装基座;

室体组件,安装于所述安装基座;

盖组件,与所述室体组件围设成工艺腔,所述盖组件与所述室体组件可拆卸连接;以及

进气管,所述进气管的一端与所述室体组件连接,所述进气管配置为经所述室体组件向所述工艺腔供气。

一实施例中,所述进气管位于所述室体组件背离所述盖组件的一侧。

一实施例中,所述安装基座与所述室体组件围设成容纳腔,所述进气管位于所述容纳腔内,所述进气管的另一端与所述安装基座连接,所述安装基座具有与所述进气管连通的进气端口。

一实施例中,所述容纳腔具有避让区,所述进气管包括:

进气主管,连接在所述室体组件背离所述盖组件的一侧,所述进气主管沿所述室体组件和所述盖组件的排列方向延伸设置,所述进气主管配置为经所述室体组件向所述工艺腔供气,所述避让区至少部分地位于所述进气主管背离所述室体组件的一侧;以及

过渡管道,分别与所述安装基座和所述进气主管连接,所述进气端口与所述过渡管道连通,所述过渡管道配置为向所述进气主管供气。

一实施例中,所述进气管一体成型。

一实施例中,室体组件包括:

室主体,安装于所述安装基座,所述室主体与所述盖组件围设成所述工艺腔,所述室主体与所述盖组件可拆卸连接,所述进气管穿设于所述室主体;以及

下电极部件,位于所述工艺腔内,所述下电极部件与所述进气管连接,所述下电极部件形成有气流通道,所述气流通道连通所述工艺腔与所述进气管,所述气流通道具有与所述工艺腔连通的多个出气端口。

一实施例中,所述下电极部件包括:

下电极,位于所述工艺腔内;以及

第一石英环,位于所述工艺腔内,所述第一石英环环绕在所述下电极的周围,所述第一石英环与所述进气管连接,所述气流通道形成于所述第一石英环。

一实施例中,所述气流通道包括:

第一气孔,与所述进气管连通;

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