[实用新型]一种存储器板级装置测试电路有效
| 申请号： | 202120718053.2 | 申请日： | 2021-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN214428333U | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 屈粮富;宋晓荣;张大伟;马慧娟 | 申请（专利权）人： | 天津普智芯网络测控技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 | 代理人： | 甄丹凤 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区滨海*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 存储器 装置 测试 电路 | ||
1.一种存储器板级装置测试电路，包括测试芯片及与所述测试芯片连接的采样电路，所述采样电路对测试芯片的电压电流数据采样保证所述测试芯片的稳定性。
2.根据权利要求1所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述测试芯片连接存储滤波电路，用于对所述测试芯片进行滤波处理。
3.根据权利要求1所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述采样电路及所述测试芯片连接稳压电路，对电压数据进行稳压处理。
4.根据权利要求3所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述稳压电路型号为TPS51206DSQ。
5.根据权利要求1所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述测试芯片型号为IS46DR16640B。
6.根据权利要求1所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述测试芯片通过芯片座连接子测试电路。
7.根据权利要求6所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述子测试电路连接连接电路。
8.根据权利要求7所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述连接电路还与母测试电路连接，所述母测试电路连接上位机，所述上位机控制所述母测试电路进行测试。
9.根据权利要求8所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述母测试电路包括通讯电路，上位机通过所述通讯电路连接所述连接电路。
10.根据权利要求9所述一种存储器板级装置测试电路，其特征在于：所述通讯电路型号为MAX13236。
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