[实用新型]一种存储器板级装置测试电路有效

专利信息
申请号: 202120718053.2 申请日: 2021-04-08
公开(公告)号: CN214428333U 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 屈粮富;宋晓荣;张大伟;马慧娟 申请(专利权)人: 天津普智芯网络测控技术有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 北京沁优知识产权代理有限公司 11684 代理人: 甄丹凤
地址: 300000 天津市滨海新区滨海*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储器 装置 测试 电路
【说明书】:

一种存储器板级装置测试电路,包括测试芯片及分别与所述测试芯片连接的采样电路、存储滤波电路及稳压电路,所述采样电路对测试芯片的电压电流数据采样保证所述测试芯片的稳定性;所述测试芯片连接存储滤波电路,用于对所述测试芯片进行滤波处理;所述采样电路及所述测试芯片连接稳压电路,对电压数据进行稳压处理,提高所述测试芯片的安全性及稳定性;所述子测试电路与所述母测试电路通过所述连接电路互连,所述测试芯片通过芯片座连接子测试电路,所述母测试电路连接上位机,所述上位机控制所述母测试电路进行测试,对于不同的测试芯片,不用更换所述母测试电路即可完成测试内容提高测试效率。

技术领域

实用新型涉及存储器测试技术领域,尤其是一种存储器板级装置测试电路。

背景技术

存储管理要实现的目的是为用户提供方便、安全和充分大的存储空间,随着科技的发展,市场需求量很大,需要对器件的读、写功能,包括全空间写入、读取,包括写全零,写全一,正棋盘格,反棋盘格,March C算法以及部分时间参数进行测试,需要比较全面的测试器件的各种工作情况;但在测试过程中,由于电压电流不稳定,会出现损坏测试芯片或者测试参数不准确的情况,因而需要实用新型一种能保证测试芯片安全性及准确性的测试电路。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种存储器板级装置测试电路。

本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的:

一种存储器板级装置测试电路,包括测试芯片及与所述测试芯片连接的采样电路,所述采样电路对测试芯片的电压电流数据采样保证所述测试芯片的稳定性。

优选的,所述测试芯片连接存储滤波电路,用于对所述测试芯片进行滤波处理。

优选的,所述采样电路及所述测试芯片连接稳压电路,对电压数据进行稳压处理。

优选的,所述稳压电路型号为TPS51206DSQ。

优选的,所述测试芯片型号为IS46DR16640B。

优选的,所述测试芯片通过芯片座连接子测试电路。

优选的,所述子测试电路连接连接电路。

优选的,所述连接电路还与母测试电路连接,所述母测试电路连接上位机,所述上位机控制所述母测试电路进行测试。

优选的,所述母测试电路包括通讯电路,上位机通过所述通讯电路连接所述连接电路。

优选的,所述通讯电路型号为MAX13236。

本实用新型的优点和积极效果是:

1.本实用新型一种存储器板级装置测试电路,包括测试芯片及分别与所述测试芯片连接的采样电路、存储滤波电路及稳压电路,所述采样电路对测试芯片的电压电流数据采样保证所述测试芯片的稳定性;所述测试芯片连接存储滤波电路,用于对所述测试芯片进行滤波处理;所述采样电路及所述测试芯片连接稳压电路,对电压数据进行稳压处理,提高所述测试芯片的安全性及稳定性。

2.本实用新型中所述子测试电路与所述母测试电路通过所述连接电路互连,所述测试芯片通过芯片座连接子测试电路,所述母测试电路连接上位机,所述上位机控制所述母测试电路进行测试,对于不同的测试芯片,不用更换所述母测试电路即可完成测试内容提高测试效率。

附图说明

图1是本实用新型的电路连接框图;

图2是本实用新型的测试芯片连接图;

图3是本实用新型的采样电路连接图;

图4是本实用新型的存储滤波电路连接图;

图5是本实用新型的稳压电路连接图;

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