[实用新型]一种元器件下料与影像检测机构

权利要求书

1.一种元器件下料与影像检测机构，包括基座（1），其特征在于：所述基座（1）上安装有用于装载并输送元器件的大齿盘机构（2）、用于将元器件搬运离开大齿盘机构（2）并改变元器件装载面的小齿盘机构（3）、用于检测元器件非装载面的外观检测总成（4）和用于控制大齿盘机构（2）、小齿盘机构（3）和外观检测总成（4）的控制系统，所述大齿盘机构（2）、小齿盘机构（3）和外观检测总成（4）均与控制系统电连接。

2.根据权利要求1所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述大齿盘机构（2）包括送料齿盘（21）和设置在送料齿盘（21）下端的驱动组件（22），所述送料齿盘（21）沿水平方向设置，所述大齿盘机构（2）上设有若干用于容纳元器件（7）的卡槽（211），所述卡槽（211）环形均布在送料齿盘（21）的端面上。

3.根据权利要求2所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述小齿盘机构（3）包括搬运齿盘（31）和用于驱动搬运齿盘（31）动作的支撑组件，所述搬运齿盘（31）沿竖直方向设置，所述小齿盘机构（3）上设有若干用于搬运元器件（7）的齿槽（311），所述齿槽（311）环形均布在搬运齿盘（31）的端面上。

4.根据权利要求3所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述送料齿盘（21）与搬运齿盘（31）的轴线位于同一平面，所述搬运齿盘（31）与送料齿盘（21）的轴线位于同一平面。

5.根据权利要求4所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述送料齿盘（21）与搬运齿盘（31）分别绕各自的轴线间歇式转动，所述搬运齿盘（31）采用逆时针转动，且搬运齿盘（31）转动时送料齿盘（21）的卡槽（211）正对着搬运齿盘（31）。

6.根据权利要求5所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述外观检测总成（4）设置在小齿盘机构（3）周围，所述外观检测总成（4）包括左视外观检测机构（41）、后视外观检测机构（42）、右视外观检测机构（43）和两个支撑架（44），两个所述支撑架（44）对称设置在搬运齿盘（31）的两侧，且后视外观检测机构（42）竖直设置在其中一个支撑架（44）上，所述左视外观检测机构（41）和右视外观检测机构（43）分别水平设置在两个支撑架（44）上。

7.根据权利要求6所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述左视外观检测机构（41）包括可沿支撑架（44）左右滑动的第一CCD相机（411），所述后视外观检测机构（42）包括可沿支撑架（44）上下滑动的第二CCD相机（421），所述右视外观检测机构（43）包括可沿支撑架（44）左右滑动的第三CCD相机（431）。

8.根据权利要求7所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：所述第一CCD相机（411）的视角投向待检元器件（7）的左侧面，采集元器件（7）左侧面的图像，所述第二CCD相机（421）的视角投向待检元器件（7）的后表面，采集元器件（7）后表面的图像，所述第三CCD相机（431）的视角投向待检元器件（7）的右侧面，采集元器件（7）右侧面的图像，所述第一CCD相机（411）、第二CCD相机（421）和第三CCD相机（431）上均设有LED照明光源。

9.根据权利要求1所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：

所述基座（1）上还安装有用于缓存元器件的直线缓存机构（5），所述直线缓存机构（5）设置在小齿盘机构（3）的下方前端，所述直线缓存机构（5）与控制系统电连接。

10.根据权利要求1所述的一种元器件下料与影像检测机构，其特征在于：

所述基座（1）上还安装有用于剔除不合格元器件的不合格品下料机构（6），所述不合格品下料机构（6）设置在小齿盘机构（3）的下方后端，所述不合格品下料机构（6）与控制系统电连接，所述不合格品下料机构（6）包括剔除与收集机构，用于将不合格品剔除并分类收集。