[实用新型]一种道岔框架支距测量装置有效

专利信息
申请号: 202120760459.7 申请日: 2021-04-14
公开(公告)号: CN216523586U 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 高小平 申请(专利权)人: 高小平
主分类号: G01B5/14 分类号: G01B5/14
代理公司: 郑州华智星知识产权代理事务所(普通合伙) 41145 代理人: 范林林
地址: 741000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 道岔 框架 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种道岔框架支距测量装置,其特征在于,包括尺身(1),所述尺身(1)设置有绝缘板(2)和用于测量道岔框架尺寸的第二游标(4)和测量支距的第一游标(7),所述绝缘板(2)设置有测头(3),所述第二游标(4)套设于所述尺身(1);所述测头(3)上远离所述第一游标(7)的侧面为测量道岔支距尺寸的支距测量面(32),所述测头(3)上靠近所述第二游标(4)的侧面为测量道岔框架尺寸的框架测量面(31),所述第二游标(4)下方设有第二搭轨台(5),所述第二搭轨台(5)上与所述尺身(1)平行的侧面为第二搭轨面(51),与所述第二搭轨面(51)垂直的侧面为第二测量面(52)。

2.根据权利要求1所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,还包括设于所述第二游标(4)右侧且套在所述尺身(1)上的第二绝缘套(6)。

3.根据权利要求2所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,还包括设于所述第一游标(7)右侧且套在所述尺身(1)上的第二游标(4);所述第一游标(7)用于测量道岔支距。

4.根据权利要求3所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,还包括设于所述第一游标(7)右侧、第二游标(4)左侧且套在所述尺身(1)上的第一绝缘套(9)。

5.根据权利要求4所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,所述第一游标(7)下方设有第一搭轨台(8),所述第一搭轨台(8)上与所述尺身(1)平行的侧面为第一搭轨面(81),与所述第一搭轨面(81)垂直的侧面为第一测量面(82)。

6.根据权利要求1所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,所述绝缘板(2)上远离所述尺身(1)的侧面为第三搭轨面(21)。

7.根据权利要求1所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,所述第二游标(4)为两行刻度,可同时测量P43/P50/P60轨型道岔框架尺寸,所述第一游标(7)为一行刻度。

8.根据权利要求1所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,所述第二游标(4)置于第二游框(10)中,所述第一游标(7)置于第一游框(11)中。

9.根据权利要求1所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,所述尺身(1)为工字铝镁合金尺身。

10.根据权利要求1所述的道岔框架支距测量装置,其特征在于,所述绝缘板(2)设置有用于观察基本轨框架尺寸测量点定位孔。

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