[实用新型]一种SMD电容耐压测试转盘

说明书

本实用新型公开了一种SMD电容耐压测试转盘，包括盘体和电机，所述盘体固定于电机的传动轴上，所述盘体的顶部固定有多个放置盒，所述放置盒上开设有多个放置口；本实用新型中，通过在放置口上设置紧固机构，使用时，将待测试的SMD电容放置在放置口内，SMD电容挤压固定板，固定板受到挤压从而推动活动柱压缩弹簧，待SMD电容放置好后，被压缩的弹簧复位，从而推动活动柱，活动柱推动固定板将待测试的SMD电容夹紧，解决了传统中的SMD电容耐压测试时，SMD电容放置不稳，影响测试效果的问题。

技术领域

本实用新型属于SMD电容测试技术领域，具体涉及一种SMD电容耐压测试转盘。

背景技术

SMD电解电容外型尺寸与重量及接脚型态相关。工作温度范围是-55℃—+105℃，额定电压范围是6.3V—100V，电容量范围是6.3uF—1000uF。

SMD电容耐压测试常用到测试转盘。

然而现有的SMD电容耐压测试转盘在使用时仍然存在着一些不合理的因素，现有的SMD电容耐压测试转盘在使用时存在着以下方面的不足：

电容测试时存在着放置不稳，影响测试效果的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种SMD电容耐压测试转盘，以解决上述背景技术中提出的电容测试时存在着放置不稳，影响测试效果的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种SMD电容耐压测试转盘，包括盘体和电机，所述盘体固定于电机的传动轴上，所述盘体的顶部固定有多个放置盒，所述放置盒上开设有多个放置口。

优选的，所述放置口上设置有紧固机构，该紧固机构包括弹簧、固定板和活动柱，所述放置口的内侧面开设有两个相对分布的固定槽，所述活动柱的一端可往复活动的嵌入固定槽，另一端伸出固定槽，所述固定板固定于活动柱的伸出端，所述弹簧的一端与活动柱的嵌入端端面连接，另一端与固定槽的槽底连接。

优选的，所述放置盒设置有六个，且六个放置盒间隔分布于盘体的顶部。

优选的，所述放置口设置有十个，且十个放置口间隔分布。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过在放置口上设置紧固机构，使用时，将待测试的SMD电容放置在放置口内，SMD电容挤压固定板，固定板受到挤压从而推动活动柱压缩弹簧，待SMD电容放置好后，被压缩的弹簧复位，从而推动活动柱，活动柱推动固定板将待测试的SMD电容夹紧，解决了传统中的SMD电容耐压测试时，SMD电容放置不稳，影响测试效果的问题。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的图1中的A区放大结构示意图；

图3为本实用新型的正视结构示意图；

图中：1、盘体；2、放置口；3、放置盒；4、固定槽；5、弹簧；6、固定板；7、活动柱；8、电机。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1、图2和图3，本实用新型提供一种技术方案：一种SMD电容耐压测试转盘，包括盘体1和电机8，盘体1固定于电机8的传动轴上，便于通过电机8带动盘体1转动，盘体1的顶部固定有多个放置盒3，放置盒3上开设有多个放置口2，放置口2用于放置待测试的SMD电容。