[实用新型]一种半导体晶元检测及除尘设备有效

专利信息
申请号: 202120954152.0 申请日: 2021-05-07
公开(公告)号: CN215391317U 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 张舞杰;邓锦飞 申请(专利权)人: 东莞市睿华智能科技有限公司
主分类号: B08B7/00 分类号: B08B7/00;B08B13/00;H01L21/67;B07C5/36
代理公司: 广州恒华智信知识产权代理事务所(普通合伙) 44299 代理人: 姜宗华
地址: 523808 广东省东莞市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 检测 除尘 设备
【权利要求书】:

1.一种半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述除尘设备包括:机箱(1)、进料机构(2)、承接机构(3)、水平滑台(4)、检测机构(5)、机械手(6)、具有粘尘棒(71)的供应机构(7)、用于回收不良品的回收机构(8)和卸料机构(9),所述水平滑台(4)、检测机构(5)、机械手(6)、供应机构(7)和回收机构(8)都位于机箱(1)的内部,所述机箱(1)位于进料机构(2)和卸料机构(9)之间,所述承接机构(3)位于水平滑台(4)上,所述水平滑台(4)从检测机构(5)延伸至回收机构(8),所述机械手(6)位于检测机构(5)与供应机构(7)之间。

2.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述进料机构(2)包括:进料框(21)、进料托架(22)、进料升降器(23)和进料推进器(24),所述进料框(21)固定在进料托架(22)上,所述进料托架(22)沿上下方向可移动地设置在进料升降器(23)上,所述进料推进器(24)与承接机构(3)正对,所述进料框(21)位于进料推进器(24)与承接机构(3)之间。

3.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述承接机构(3)包括:承接轨道(31)、转移器(32)、压紧器(33)和限位器(34),所述转移器(32)位于承接轨道(31)的上方,所述压紧器(33)和限位器(34)位于承接轨道(31)的下方,所述压紧器(33)比限位器(34)更靠近进料机构(2)。

4.根据权利要求3所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述承接轨道(31)包括:承接电机(311)、磁力辊(312)、多个磁力轮(313)和多个送料辊(314),所述承接电机(311)的电机轴与磁力辊(312)形成固定连接,所述磁力轮(313)与送料辊(314)形成固定,所述磁力辊(312) 位于多个磁力轮(313)的下方。

5.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述水平滑台(4)包括:支撑板(41)、X轴滑台(42)和Y轴滑台(43),所述进料机构(2)固定在支撑板(41)上,所述支撑板(41)沿前后方向可移动地设置在X轴滑台(42)上,所述X轴滑台(42)沿左右方向可移动地设置在Y轴滑台(43)上。

6.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述检测机构(5)包括:摄像头(51)、前后旋转器(52)、左右旋转器(53)和检测升降器(54),所述摄像头(51)沿前后方向可转动地设置在前后旋转器(52)上,所述前后旋转器(52)沿左右方向可转动地设置在左右旋转器(53)上,所述左右旋转器(53)沿上下方向可移动地设置在检测升降器(54)上。

7.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述机械手(6)包括:夹头(61)、上下移动器(62)和前后移动器(63),所述夹头(61)沿上下方向可移动地设置在上下移动器(62)上,所述上下移动器(62)沿前后方向可移动地设置在前后移动器(63)上。

8.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述供应机构(7)包括:多个粘尘棒(71)、转台(72)和旋转器(73),多个粘尘棒(71)位于转台(72)上并且呈360°圆周形阵列的方式排列,所述转台(72)可转动地设置在旋转器(73)上。

9.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述回收机构(8)包括:回收框(81)、回收托架(82)和回收升降器(83),所述回收框(81)固定在回收托架(82)上,所述回收托架(82)沿上下方向可移动地设置在回收升降器(83)上。

10.根据权利要求1所述的半导体晶元检测及除尘设备,其特征在于:所述卸料机构(9)包括:卸料框(91)、卸料托架(92)和卸料升降器(93),所述卸料框(91)固定在卸料托架(92)上,所述卸料托架(92)沿上下方向可移动地设置在卸料升降器(93)上。

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