[实用新型]用于透射电镜样品的多规格显微镜联动分析样品台

权利要求书

1.用于透射电镜样品的多规格显微镜联动分析样品台，其特征在于包括单元体，仪器兼容外壳，装配器(10)；

所述单元体包括TEM grid固定核心(1)，TEM grid(2)，垫圈(3)，空心固定螺丝(4)，内螺纹盲孔(5)，通孔(6)，其中，在TEM grid固定核心(1)的下端开设有内螺纹盲孔(5)，在内螺纹盲孔(5)的顶端开设有通孔(6)，通孔(6)的直径小于内螺纹盲孔(5)的直径，TEM grid(2)位于内螺纹盲孔(5)顶端，空心固定螺丝(4)拧在内螺纹盲孔(5)中将TEM grid(2)压紧固定，在空心固定螺丝(4)与TEM grid(2)之间垫置有垫圈(3)；

在所述仪器兼容外壳上开设有与TEM grid固定核心(1)外形相配合的插槽；

在装配器(10)上开设有与TEM grid固定核心(1)外形相配合的单元体固定槽(11)，开设有与TEM grid(2)外形相配合的TEM grid固定槽(12)，开设有与所述仪器兼容外壳外形相配合的仪器兼容外壳固定槽(13)。

2.根据权利要求1所述的用于透射电镜样品的多规格显微镜联动分析样品台，其特征在于，所述仪器兼容外壳为二维材料转移外壳(7)，二维材料转移外壳(7)的外形与二维材料转移平台相适配。

3.根据权利要求1所述的用于透射电镜样品的多规格显微镜联动分析样品台，其特征在于，所述仪器兼容外壳为AFM测试兼容外壳(8)，AFM测试兼容外壳(8)的外形与AFM相适配。

4.根据权利要求1所述的用于透射电镜样品的多规格显微镜联动分析样品台，其特征在于，所述仪器兼容外壳为SEM测试兼容外壳(9)，SEM测试兼容外壳(9)的外形与SEM相适配。

5.根据权利要求1所述的用于透射电镜样品的多规格显微镜联动分析样品台，其特征在于，还包括定位螺丝(14)，所述单元体插接在仪器兼容外壳的所述插槽中，定位螺丝(14)将单元体和仪器兼容外壳紧固连接。