[实用新型]一种以太网设备的测试设备

权利要求书

1.一种以太网设备的测试设备，其特征在于，包括：控制器、切换电路和校准电路，其中，

所述校准电路包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路；

所述第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路，通过以太网线与所述切换电路相连；

所述切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连；

所述控制器分别与所述切换电路、所述校准电路以及上位机相连；

所述控制器用于根据所述上位机的测试指令控制所述切换电路切换所述被测设备与所述各功能测试设备之间的连接，以便实现对所述被测设备的各项功能的测试；

其中，所述各功能测试设备包括矢量网络分析仪、示波器和干扰源。

2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述各功能测试设备还包括从扰动测试设备；

所述测试设备还包括：从扰动测试电路，其中，

所述从扰动测试电路的一端与所述从扰动测试设备相连；

所述从扰动测试电路的另一端经扰动测试线缆与所述被测设备相连。

3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述切换电路包括负载电路、干扰源接入电路、共模测试电路和回波损耗测试电路，其中，

所述负载电路分别与所述被测设备、所述共模测试电路和所述回波损耗测试电路相连；

所述回波损耗测试电路分别与所述校准电路以及所述共模测试电路相连；

所述共模测试电路分别与所述干扰源接入电路以及所述示波器相连；

所述干扰源接入电路与所述干扰源相连。

4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述第一校准电路包括RJ45接口和与RJ45接口相连的第一校准子电路；

所述第二校准电路包括M12X接口和与M12X接口相连的第二校准子电路；

所述第三校准电路包括M12D接口和与M12D接口相连的第三校准子电路。

5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于，所述第一校准子电路、所述第二校准子电路和所述第三校准子电路为结构相同的校准子电路；

所述校准子电路包括四路校准线路，各所述校准线路镜像对称布置，且任一所述校准线路的长度小于第一预设长度阈值。

6.根据权利要求5所述的测试设备，其特征在于，所述校准子电路包括：第一连通电路、第二连通电路和阻抗匹配电路，其中，

所述阻抗匹配电路经所述第一连通电路与所述第二连通电路相连；

所述第二连通电路与相应的接口相连；

所述第一连通电路和所述第二连通电路分别包括两路校准线路，以组成四路校准线路；

所述阻抗匹配电路用于输出与预设校准项目对应的阻抗。

7.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于，所述负载电路包括RJ45接口和与RJ45接口相连的负载子电路，其中，

所述负载子电路包括四路测试线路，各所述测试线路镜像对称布置，且任一所述测试线路的长度小于第二预设长度阈值。

8.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于，所述负载子电路包括第一切换开关、第二切换开关和第三切换开关，其中，

所述第一切换开关的两组静触点和所述第二切换开关的两组静触点分别与RJ45接口相连；

所述第三切换开关的一组静触点与所述第一切换开关的动触点相连，所述第三切换开关的另一组静触点与所述第二切换开关的动触点相连；

所述第三切换开关的动触点与所述共模测试电路相连。