[实用新型]一种以太网设备的测试设备有效

专利信息
申请号: 202121126925.2 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN214507084U 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 李新桥;朱蔚东;侯振龙 申请(专利权)人: 上海仁童电子科技有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B17/11;H04B17/21;H04B17/309;G01R31/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春辉
地址: 200233 上海市徐汇区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 以太网 设备 测试
【说明书】:

实用新型提出一种以太网设备的测试设备,该设备包括控制器、切换电路和校准电路,而且,校准电路还包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路,在进行测试时,第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路,通过以太网线与切换电路相连,切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连,而控制器则分别与切换电路、校准电路以及上位机相连,在测试时,控制器根据上位机的测试指令控制切换电路切换被测设备与各功能测试设备之间的连接,以便实现对被测设备的各项功能的测试。本实施例提供的测试设备通过控制器对测试设备进行总体控制,实现被测设备与各个功能测试设备之间的切换连接,完成不同功能的制动化测试。

技术领域

本实用新型涉及设备测试技术领域,尤其涉及一种以太网设备的测试设备。

背景技术

根据带宽的不同,大致可以将以太网设备分为100BASE-TX设备和1000BASE-T设备,但是不论对于哪一种以太网设备,当前对于以太网设备的测试通常都是借助转接测试板卡实现的。转接测试板卡具有不同的功能测试接口,在对以太网设备的各项功能进行测试时,需要根据待测试项,手动地将以太网设备插接到转接测试板卡的相应的功能测试接口,以便实现对相应功能的测试。

上述基于转接测试板卡的以太网设备测试过程需要用户频繁地执行以太网设备的插接操作,其测试过程繁琐,用户工作量大。

实用新型内容

基于上述现有技术的缺陷和不足,本实用新型提出一种以太网设备的测试设备,可以实现对以太网设备的自动测试。为实现上述目的,本实用新型的具体技术方案如下:

一种以太网设备的测试设备,包括:控制器、切换电路和校准电路,其中,

所述校准电路包括第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路;

所述第一校准电路、第二校准电路和第三校准电路中的一路,通过以太网线与所述切换电路相连;

所述切换电路分别与被测设备以及各功能测试设备相连;

所述控制器分别与所述切换电路、所述校准电路以及上位机相连;

所述控制器用于根据所述上位机的测试指令控制所述切换电路切换所述被测设备与所述各功能测试设备之间的连接,以便实现对所述被测设备的各项功能的测试;

其中,所述各功能测试设备包括矢量网络分析仪、示波器和干扰源。

可选的,所述各功能测试设备还包括从扰动测试设备;

所述测试设备还包括:从扰动测试电路,其中,

所述从扰动测试电路的一端与所述从扰动测试设备相连;

所述从扰动测试电路的另一端经扰动测试线缆与所述被测设备相连。

可选的,所述切换电路包括负载电路、干扰源接入电路、共模测试电路和回波损耗测试电路,其中,

所述负载电路分别与所述被测设备、所述共模测试电路和所述回波损耗测试电路相连;

所述回波损耗测试电路分别与所述校准电路以及所述共模测试电路相连;

所述共模测试电路分别与所述干扰源接入电路以及所述示波器相连;

所述干扰源接入电路与所述干扰源相连。

可选的,所述第一校准电路包括RJ45接口和与RJ45接口相连的第一校准子电路;

所述第二校准电路包括M12X接口和与M12X接口相连的第二校准子电路;

所述第三校准电路包括M12D接口和与M12D接口相连的第三校准子电路。

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