[实用新型]一种针座及探针台有效
申请号: | 202121266443.7 | 申请日: | 2021-06-08 |
公开(公告)号: | CN215833435U | 公开(公告)日: | 2022-02-15 |
发明(设计)人: | 颜建武;杨应俊 | 申请(专利权)人: | 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04;G01R1/067 |
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地址: | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 探针 | ||
本实用新型提出一种针座及探针台。一种针座,包括探针安装部,所述探针安装部用于安装测试探针,所述探针安装部设置有限位槽,以及沿垂直于限位槽延伸方向设置的锁紧螺纹孔;所述针座还包括与锁紧螺纹孔螺接的锁紧螺杆,所述锁紧螺杆的螺帽设置有让位切口;在锁紧螺杆拧入锁紧螺纹孔时,测试探针能够经让位切口置入限位槽,旋转锁紧螺杆使螺帽抵紧测试探针;一种应用所述针座的探针台;测试探针更换方便,测试探针安全可靠固定于探针安装部。
技术领域
本实用新型涉及一种针座及探针台。
背景技术
一种带有弯折尾部的测试探针(如图1),该测试探针需要固定在针座后方可用于测试。
现有的针座对于测试探针的安装,采用将测试探针按照路径a放入限位槽,即先沿水平方向将测试探针置于螺杆与限位槽之间,继而将测试探针置于限位槽;再通过拧紧螺杆使测试探针固定于限位槽(如图2)。
由于测试探针很细,而且固定测试探针用的螺杆很短(螺杆太长造成拧紧后下端伸出太长,影响测试);使用者无法从上方观察到限位槽,因锁紧螺杆遮挡了限位槽,造成该种结构的测试探针更换不便。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提出一种针座及探针台。
本实用新型的技术方案为:一种针座,包括探针安装部,所述探针安装部用于安装测试探针,所述探针安装部设置有限位槽,以及沿垂直于限位槽延伸方向设置的锁紧螺纹孔;
所述针座还包括与锁紧螺纹孔螺接的锁紧螺杆,所述锁紧螺杆的螺帽设置有让位切口;在锁紧螺杆拧入锁紧螺纹孔时,测试探针能够经让位切口置入限位槽,旋转锁紧螺杆使螺帽抵紧测试探针。
进一步的,所述探针安装部还设置有限位缺口,当带有弯折尾部测试探针的支撑部置于限位槽,所述弯折尾部能够伸入所述限位缺口。
进一步的,所述弯折尾部沿限位槽延伸方向止抵于限位缺口内壁。
进一步的,所述限位缺口贯穿于探针安装部,且沿垂直于限位缺口延伸方向设置有让位侧开口。
进一步的,所述探针安装部用铜或铜合金制成。
进一步的,所述限位槽置入测试探针时,测试探针高出限位槽的距离小于测试探针半径。
进一步的,所述让位侧开口的高度小于探针安装部厚度的一半。
进一步的,所述锁紧螺杆的让位切口有且仅有一个。
进一步的,所述让位切口与锁紧螺杆的螺接部外径齐平。
一种探针台,所述探针台设置有上述的针座。
本实用新型的有益效果在于:测试探针更换方便,测试探针安全可靠固定于探针安装部。
附图说明
图1为本实用新型测试探针示意图;
图2为现有常规安装测试探针示意图;
图3为本实用新型针座结构示意图;
图4为本实用新型探针安装部结构示意图;
图5为本实用新型锁紧螺杆结构示意图;
图6为本实用新型测试探针固定前位置关系示意图;
图6A为本实用新型测试探针固定后简化结构示意图;
图7为本实用新型测试探针固定后示意图;
图8为本实用新型让位切口与螺接部外径齐平的锁紧螺杆结构示意图。
具体实施方式
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