[实用新型]一种半导体综合测试仪

权利要求书

1.一种半导体综合测试仪，包括测试仪本体(1)，所述测试仪本体(1)上表面开设有圆孔，所述测试仪本体(1)的圆孔内壁活动套接有探针(12)，所述测试仪本体(1)上表面设置有集成电线(11)，所述探针(12)通过集成电线(11)与测试仪本体(1)电路连接，所述测试仪本体(1)上表面开设有参数显示屏(13)，其特征在于：所述测试仪本体(1)上表面的前端固定连接有测试台(14)，所述测试仪本体(1)上表面固定连接有挡板(15)，所述测试仪本体(1)右表面开设有插槽(16)，所述插槽(16)左内壁固定连接接有弹簧一(17)，所述弹簧一(17)有表面固定连接有滑块一(18)，所述滑块一(18)有表面固定连接有推动块(19)，所述插槽(16)内壁右端滑动连接有放置盒(2)，所述放置盒(2)内壁滑动连接有限位板(21)，所述限位板(21)前后两面均开设有滑块，所述放置盒(2)前后内壁均开设有限位槽(22)，两个所述放置盒(2)的滑块滑动连接在限位槽(22)内壁，所述限位板(21)右表面固定连接有弹簧二(23)，所述弹簧二(23)的弹力系数小于弹簧一(17)，所述弹簧二(23)右表面固定连接在放置盒(2)右内壁，所述放置盒(2)右端四周表面固定连接有磁石，所述放置盒(2)的磁石磁吸连接在插槽(16)右端，所述放置盒(2)右表面固定连接有把手(24)；

所述测试仪本体(1)前面设置有分类机构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体综合测试仪，其特征在于：所述分类机构包括固定块(3)，所述固定块(3)后表面固定连接在测试仪本体(1)前面，所述固定块(3)前面开设有T型槽(31)，所述T型槽(31)内壁滑动连接有T型块(32)，所述T型块(32)前面固定连接有收集盒(33)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体综合测试仪，其特征在于：所述限位板(21)左表面与推动块(19)右表面均固定连接有一层缓冲垫。

4.根据权利要求1所述的一种半导体综合测试仪，其特征在于：所述推动块(19)四周表面滑动连接在放置盒(2)内壁。

5.根据权利要求1所述的一种半导体综合测试仪，其特征在于：所述测试台(14)上表面固定连接有一层绝缘橡胶垫。

6.根据权利要求2所述的一种半导体综合测试仪，其特征在于：所述固定块(3)、T型槽(31)、T型块(32)、收集盒(33)以测试仪本体(1)前表面为中心呈左右对称结构。