[实用新型]一种半导体综合测试仪

说明书

本实用新型公开了一种半导体综合测试仪，涉及半导体测试设备技术领域。包括测试仪本体，测试仪本体上表面开设有圆孔，测试仪本体的圆孔内壁活动套接有探针，测试仪本体上表面设置有集成电线，探针通过集成电线与测试仪本体电路连接，测试仪本体上表面开设有参数显示屏，测试仪本体上表面的前端固定连接有测试台，测试仪本体上表面固定连接有挡板，测试仪本体右表面开设有插槽，放置盒右端四周表面固定连接有磁石，放置盒的磁石磁吸连接在插槽右端，放置盒右表面固定连接有把手；测试仪本体前面设置有分类机构，有效的提高了测试人员在拿取半导体时的便捷性，且降低了半导体掉落导致损害的现象发生，降低破损率。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，尤其涉及一种半导体综合测试仪。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联。

而半导体器件测试是为了检验规格的一致性而在晶圆级集成电路上进行的电学参数测量，目的是检验并挑选出可接受的电学性能合格的器件，目前现有的半导体测试设备往往是通过测试人员将半导体放置在测试台上然后用探针进行测试，然而在放置过程中很容易发生半导体在测试人员手中脱落从而导致半导体损坏的现象发生，并且在测试完毕以后对于半导体的收集与良品、次品的分类十分不便，因此亟需能够有效保护半导体并在测试完毕以后方便收集分类的半导体综合测试仪。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体综合测试仪，解决了测试半导体时拿取不方便、容易对半导体造成损害、测试完成后分类收集不方便的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体综合测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体上表面开设有圆孔，所述测试仪本体的圆孔内壁活动套接有探针，所述测试仪本体上表面设置有集成电线，所述探针通过集成电线与测试仪本体电路连接，所述测试仪本体上表面开设有参数显示屏，所述测试仪本体上表面的前端固定连接有测试台，所述测试仪本体上表面固定连接有挡板，所述测试仪本体右表面开设有插槽，所述插槽左内壁固定连接接有弹簧一，所述弹簧一有表面固定连接有滑块一，所述滑块一有表面固定连接有推动块，所述插槽内壁右端滑动连接有放置盒，所述放置盒内壁滑动连接有限位板，所述限位板前后两面均开设有滑块，所述放置盒前后内壁均开设有限位槽，两个所述放置盒的滑块滑动连接在限位槽内壁，所述限位板右表面固定连接有弹簧二，所述弹簧二的弹力系数小于弹簧一，所述弹簧二右表面固定连接在放置盒右内壁，所述放置盒右端四周表面固定连接有磁石，所述放置盒的磁石磁吸连接在插槽右端，所述放置盒右表面固定连接有把手；所述测试仪本体前面设置有分类机构。

优选的，所述分类机构包括固定块，所述固定块后表面固定连接在测试仪本体前面，所述固定块前面开设有T型槽，所述T型槽内壁滑动连接有T型块，所述T型块前面固定连接有收集盒。

优选的，所述限位板左表面与推动块右表面均固定连接有一层缓冲垫。

优选的，所述推动块四周表面滑动连接在放置盒内壁。

优选的，所述测试台上表面固定连接有一层绝缘橡胶垫。

优选的，所述固定块、T型槽、T型块、收集盒以测试仪本体前表面为中心呈左右对称结构。

与相关技术相比较，本实用新型提供的一种半导体综合测试仪具有如下有益效果：