[实用新型]聚焦罩体结构、检测光源结构与检测光源装置

说明书

本实用新型揭露一种具有延伸卡合的限位件以固定于基板的补光灯的聚焦罩体结构、检测光源结构与检测光源装置，本实用新型检测光源装置包括基座与检测光源结构，检测光源结构包括聚焦罩体结构、基板、固定支架与扣合件；借此，本实用新型借由结合具有限位件的聚焦罩体结构与设置有限位孔的基板的硬件设计，有效将限位件对应卡合于限位孔内而使聚焦罩体结构稳固，使聚焦罩体结构不因卡合不稳而旋转或受外力碰撞，保护发光体所发射的光线有效照射在欲检测的对象上，确实达到检测光源结构稳固不旋转、不偏移，以及有效增加检测成功率优势。

技术领域

本实用新型是有关于一种聚焦罩体结构、检测光源结构与检测光源装置，尤其是指一种具有延伸卡合的限位件以固定于基板的检测用补光灯的聚焦罩体结构与设置有聚焦罩体结构的检测光源结构与检测光源装置。

背景技术

按，在半导体组件、光学镜片或LCD面板的制造过程中，皆不允许在空气中有太多的灰尘微粒存在，这是因为在制造过程的某些步骤中(例如：清洗或载流子传输操作等)，存在于空气中的灰尘微粒会影响产品质量甚巨，甚至会因而造成显著的成本损失，所以相关的精密制程皆需要在无尘室中进行；虽然无尘室是标榜无尘的空间，但还是会有极少量的灰尘微粒存在，而这些灰尘微粒的产生，除了因空气对流外，主要还是来自于耗材(例如：手套或口罩等)或人体所产生(例如：皮肤表面的死皮细胞)；此外，在无尘室中，某些气流死角还是会慢慢堆积灰尘微粒，若出现空气扰动，这些灰尘微粒会直接掉落在产品或人体的表面，而无法被无尘室里设置的粒子计数器检测到，这些不易漂浮在无尘室空气中的灰尘微粒，当它们由静电或极性聚集在一起时，将很难被去除。

一般在无尘室中会使用设置有复数个发光体的补光灯照射欲检测的物体表面，其中补光灯的发光体所发出的光线可能是具有特定的波长或是低角度的准直光源，好让检测人员可以有效检视出产品上所附着的粉尘与微粒，进而降低产品不良率；然而，现行补光灯上的复数个发光体容易旋转而无法有效固定于基板上，导致补光灯所提供的光线无法有效照射到欲检测的对象上；因此，如何借由创新的硬件设计，可有效让捕光灯的光源可以有效照射到检测对象上，是补光灯等相关产业的开发业者与相关研究人员需持续努力克服与解决的课题。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于：提供一种具有延伸卡合的限位件以固定于基板的检测用补光灯的聚焦罩体结构与设置有聚焦罩体结构的检测光源结构与检测光源装置，主要是借由结合具有限位件的聚焦罩体结构与设置有限位孔的基板的硬件设计，有效将聚焦罩体结构的限位件对应卡合于基板的限位孔内而使聚焦罩体结构稳固，使内建有发光体的聚焦罩体结构不因卡合不稳而旋转或受外力碰撞，保护发光体所发射的光线能有效照射在欲检测的对象上，确实达到检测光源结构稳固不旋转、不偏移，以及有效增加检测成功率等主要优势者。

本实用新型所采用的技术手段如下。

根据本实用新型的目的，提出一种聚焦罩体结构，是至少包括有一壳体，以及二限位件；二限位件是分别设置于壳体的二端部。

在本实用新型的一个实施例中，壳体是呈上宽下窄的圆锥型态样。

在本实用新型的一个实施例中，壳体的上周围是可进一步环设有一套环，且限位件是连接于套环。

在本实用新型的一个实施例中，限位件的二端部是可进一步包括有二连接套环的顶抵件。

在本实用新型的一个实施例中，聚焦罩体结构的下端部是可进一步设置有一基板，基板对应限位件的二端部是分别凹设有一限位孔，限位件是对应卡合于限位孔。

在本实用新型的一个实施例中，基板面对聚焦罩体结构的一端面是可进一步设置有一电路板，且电路板上是设置有至少一发光体。

在本实用新型的一个实施例中，发光体是为发光二极管(Light-Emitting Diode，LED)。