[实用新型]Taiko晶圆背面光刻掩具有效
申请号: | 202121443039.2 | 申请日: | 2021-06-28 |
公开(公告)号: | CN215264375U | 公开(公告)日: | 2021-12-21 |
发明(设计)人: | 吕琳;杨震;聂敦伟;周曙华 | 申请(专利权)人: | 尼西半导体科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 上海骁象知识产权代理有限公司 31315 | 代理人: | 朱逸 |
地址: | 201614 上海市松江*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | taiko 背面 光刻 | ||
【权利要求书】:
1.一种Taiko晶圆背面光刻掩具,包括能让紫外光线穿过的光刻掩版,其特征在于:还包括用于贴附在Taiko晶圆正面的可耐受180℃高温至少2小时的耐高温贴膜,并且耐高温贴膜能让365nm~1000nm的光波穿过;
所述光刻掩版的下表面印制有能阻止紫外光线穿过的光刻图形,并且在光刻掩版的下表面开设有圆环形的晶圆环容纳槽,所述晶圆环容纳槽用于容纳Taiko晶圆的晶圆环,并且晶圆环容纳槽围住光刻掩版下表面的光刻图形。
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