[实用新型]一种关于半导体引脚检测的装置

权利要求书

1.一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，包括检测机构；所述检测机构包括底板、落料斗板、第一气缸、第二气缸、产品、测试件、顶块、第三气缸、挡料件、第四气缸、转轴、推杆座、第五气缸、第一落料斗和第二落料斗，第一气缸、第二气缸、第三气缸、第四气缸和第五气缸均固定安装在底板顶部，

所述检测机构的测试件(6)固定安装在底板(1)顶部，产品(5)设置在测试件(6)上，所述顶块(7)固定安装在第三气缸(8)的伸缩端上，挡料件(9)固定安装在第四气缸(10)的伸缩端上，转轴(11)转动连接在底板(1)顶部的左侧，落料斗板(2)固定安装在转轴(11)上，推杆座(12)固定安装在第五气缸(13)的伸缩端上，转轴(11)的一端固定安装有转动杆，转动杆与第五气缸(13)固定连接，底板(1)的顶部开设有两个落料口，其中一个落料口的下方固定安装有第一落料斗(14)，另一个落料口的下方固定安装有第二落料斗(15)。

2.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述第一落料斗(14)和第二落料斗(15)的上部均为倒锥形。

3.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述底板(1)的底部固定安装有四个支撑柱，四个所述支撑柱分别位于底板(1)底部的四角处。

4.根据权利要求3所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述支撑柱为铝合金型材。

5.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述测试件(6)为倾斜设置。

6.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述第一气缸(3)的伸缩端固定安装有抵触件，所述抵触件为陶瓷管。

7.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述顶块(7)为矩形块状结构，所述顶块(7)远离第三气缸(8)的一侧开设有弧形凹槽。

8.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述推杆座(12)为“U”型结构。

9.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述底板(1)顶部的四角处均贯穿开设有安装孔，所述安装孔为圆形通孔结构。

10.根据权利要求1所述的一种关于半导体引脚检测的装置，其特征在于，所述挡料件(9)的内侧面设有防护垫，所述防护垫为橡胶材质。