[实用新型]光电芯片测试装置有效

专利信息
申请号: 202121544108.9 申请日: 2021-07-07
公开(公告)号: CN216622581U 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 谢翔;吴宏;王丹 申请(专利权)人: 威科赛乐微电子股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/067;G01M11/02
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 黄宗波
地址: 404000 重庆市*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 光电 芯片 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种光电芯片测试装置,其特征在于,所述光电芯片测试装置用于测试光电芯片,所述光电芯片测试装置包括:

晶圆载盘;

测试板,所述测试板通过治具固定于所述晶圆载盘,所述测试板绝缘设置有若干个焊盘区,所述焊盘区包括负极焊盘和正极焊盘;每个所述光电芯片分别设置于一个所述焊盘区,所述光电芯片的负极固定于所述负极焊盘,所述光电芯片的正极与所述正极焊盘区焊线连接;

电信号发送模块,所述电信号发送模块与所述正极焊盘电连接;

电信号接收模块,所述电信号接收模块与所述负极焊盘电连接;

光信号接收模块,所述光信号接收模块与设置于所述光电芯片上方的积分球电连接;

处理器,所述处理器与所述电信号发送模块、电信号接收模块和光信号接收模块电连接。

2.根据权利要求1所述的光电芯片测试装置,其特征在于,所述电信号发送模块包括信号电发射单元和脉冲电发射单元;所述信号电发射单元和所述脉冲电发射单元与所述正极焊盘电连接;

所述电信号接收模块包括信号电接收单元和脉冲电接收单元,所述信号电接收单元和脉冲电接收单元与所述负极焊盘电连接。

3.根据权利要求2所述的光电芯片测试装置,其特征在于,还包括:信号检测模块,所述信号检测模块分别与所述负极焊盘和所述正极焊盘电连接。

4.根据权利要求1所述的光电芯片测试装置,其特征在于,还包括:光谱仪,所述光谱仪与所述积分球电连接。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光电芯片测试装置,其特征在于,所述负极焊盘为方形,所述正极焊盘为U形。

6.根据权利要求5所述的光电芯片测试装置,其特征在于,所述测试板包括从下往下依次设置的导热层、绝缘层、焊盘层和油墨。

7.根据权利要求6所述的光电芯片测试装置,其特征在于,所述导热层的材料为铝。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的光电芯片测试装置,其特征在于,还包括:摄像头,所述摄像头设置于所述晶圆载盘上方;

驱动组件,所述驱动组件与所述晶圆载盘传动连接,所述驱动组件用于驱动所述晶圆载盘上下方向、横向和/或纵向移动。

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