[实用新型]一种芯片老化测试装置

权利要求书

1.一种芯片老化测试装置，包括芯片检测端子(44)、传送带(1)和旋转气缸(4)，其特征在于，所述旋转气缸(4)固定在传送带(1)机架一侧，所述旋转气缸(4)的输出端顶部固定有支架(41)，所述支架(41)的两端对称固定有两个伸缩气缸(42)，两个所述伸缩气缸(42)的输出端朝向下方固定有夹持气缸(43)，所述芯片检测端子(44)固定在夹持气缸(43)的底部，所述夹持气缸(43)设有两个相对位移的输出端，所述夹持气缸(43)的输出端固定有移动拨块(431)；

所述传送带(1)上等距均分固定设有若干夹持工装(2)，所述夹持工装(2)的顶部设有与芯片载盒(3)相匹配的工装槽(22)，所述夹持工装(2)上设有用于夹持芯片载盒(3)的弹性压杆(21)，所述芯片检测端子(44)的对接检测探针(441)与芯片载盒(3)内置待测芯片的引脚探测点(31)对应设置。

2.根据权利要求1所述的一种芯片老化测试装置，其特征在于，所述芯片载盒(3)的壳体两侧对称设有装配豁口(33)，所述装配豁口(33)与弹性压杆(21)相匹配。

3.根据权利要求1所述的一种芯片老化测试装置，其特征在于，所述传送带(1)上设有卡扣(11)，所述夹持工装(2)的底部设有与卡扣(11)相匹配的卡槽。

4.根据权利要求1所述的一种芯片老化测试装置，其特征在于，所述弹性压杆(21)为V型弹性杆结构，所述夹持工装(2)顶部设有与弹性压杆(21)两端相匹配的对接孔(24)，所述对接孔(24)内固定设有角块(241)，所述弹性压杆(21)具有靠近角块(241)的弹力。

5.根据权利要求1所述的一种芯片老化测试装置，其特征在于，所述传送带(1)、旋转气缸(4)、伸缩气缸(42)、夹持气缸(43)均通过导线连接控制单元，所述控制单元为PLC控制单元，所述控制单元通过导线外接电源，所述芯片检测端子(44)通过导线连接芯片检测仪器。

6.根据权利要求1所述的一种芯片老化测试装置，其特征在于，所述芯片检测端子(44)的对接检测探针(441)设有与引脚探测点(31)相匹配的凹槽。