[实用新型]一种测试机有效
申请号: | 202121567844.6 | 申请日: | 2021-07-09 |
公开(公告)号: | CN214848502U | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
发明(设计)人: | 徐四九 | 申请(专利权)人: | 嘉兴威伏半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;F16M3/00 |
代理公司: | 浙江永航联科专利代理有限公司 33304 | 代理人: | 侯兰玉 |
地址: | 314200 浙江省嘉兴市平*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测试 | ||
1.一种测试机,包括测试机本体(1),其特征在于,在所述测试机本体(1)下表面上固定连接有四个万向轮(2),四个所述万向轮(2)呈矩形分布,在所述测试机本体(1)下表面的四个角上均螺纹连接有一驱动螺杆(3),在所述驱动螺杆(3)的一端上转动连接有一支撑板(4),在所述驱动螺杆(3)外壁上螺纹连接有一定位环(5),所述定位环(5)上表面抵接在测试机本体(1)下表面上。
2.根据权利要求1所述的一种测试机,其特征在于,在所述驱动螺杆(3)靠近支撑板(4)的一端外壁上固定连接有一驱动环(6),在驱动环(6)外壁上开设有两个安装槽(7),在安装槽(7)中转动连接有一驱动杆(8)。
3.根据权利要求2所述的一种测试机,其特征在于,在所述安装槽(7)内壁上固定连接有一橡胶凸起(9)。
4.根据权利要求1所述的一种测试机,其特征在于,在测试机本体(1)上表面上固定连接有一滑杆(10),在滑杆(10)上滑动连接有一第一杆(11),在第一杆(11)一端上安装有第二杆(12),在第一杆(11)和第二杆(12)之间设有用于调节第一杆(11)和第二杆(12)之间角度的调节机构(13),在所述第二杆(12)一端上球接有一安装板(14),在安装板(14)上固定连接有一灯座(15),灯座(15)上安装有一照明灯(16)。
5.根据权利要求4所述的一种测试机,其特征在于,所述调节机构(13)包括开设在第一杆(11)一端上的第一孔(17)、开设在第二杆(12)一端上的第二孔(18)、滑动连接在第一孔(17)和第二孔(18)中的调节螺栓(19)和螺纹连接在调节螺栓(19)一端上的第一蝶形螺母(20)。
6.根据权利要求5所述的一种测试机,其特征在于,在所述第一杆(11)靠近第二杆(12)的一侧侧壁上的第一端面齿(21),第一端面齿(21)与第一孔(17)呈同轴设置,在第二杆(12)靠近第一杆(11)的一侧侧壁上的第二端面齿(22),第二端面齿(22)与第二孔(18)呈同轴设置,所述第一端面齿(21)和第二端面齿(22)啮合。
7.根据权利要求4所述的一种测试机,其特征在于,在所述第一杆(11)和滑杆(10)之间设有一连接机构(23),所述连接机构(23)包括开设在第一杆(11)一端侧壁上的连接孔(24)、开设在第一杆(11)一端端面上的连接槽(25)、开设在第一杆(11)一端侧壁上的贯穿孔(26)、滑动连接在贯穿孔(26)中的连接螺栓(27)和螺纹连接在连接螺栓(27)穿过贯穿孔(26)的一端上的第二蝶形螺母(28),所述连接孔(24)贯穿第一杆(11),所述连接槽(25)两端与外界连通且所述连接槽(25)与连接孔(24)连通,所述贯穿孔(26)与连接槽(25)连通,所述第一杆(11)通过连接孔(24)滑动连接在滑杆(10)上。
8.根据权利要求7所述的一种测试机,其特征在于,在所述连接孔(24)内壁上固定连接有一橡胶垫(29)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造