[实用新型]一种集成电路检测设备有效

专利信息
申请号: 202121569857.7 申请日: 2021-07-09
公开(公告)号: CN215415529U 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 赵坤鹏;杨征 申请(专利权)人: 无锡伟测半导体科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 苗雨
地址: 214000 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成电路 检测 设备
【权利要求书】:

1.一种集成电路检测设备,包括机体(1),所述机体(1)顶面设置有检测台(2),所述检测台(2)上方设置有吸附组件,所述吸附组件通过位移装置(3)与所述机体(1)连接,其特征在于:

所述吸附组件包括安装盘(5),所述安装盘(5)上设置有多个第一吸盘单元和多个第二吸盘单元,各所述第一吸盘单元均通过第一软管(7)与第一真空泵(6)连接,各所述第二吸盘单元均通过第二软管(8)与第二真空泵(11)连接,所述安装盘(5)上还设置有检测装置(9)。

2.根据权利要求1所述的集成电路检测设备,其特征在于,各所述第一吸盘单元和各所述第二吸盘单元环绕所述安装盘(5)的轴心线设置。

3.根据权利要求2所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述第一吸盘单元的数量与所述第二吸盘单元的数量相等,所述第一吸盘单元与所述第二吸盘单元交错设置。

4.根据权利要求3所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述第一吸盘单元和所述第二吸盘单元均包括真空管(10),所述真空管(10)的轴心线与所述安装盘(5)的轴心线平行,所述真空管(10)的顶端设置有快速接头(14),所述第一吸盘单元的所述真空管(10)与所述第一软管(7)连接,所述第二吸盘单元的所述真空管(10)与所述第二软管(8)连接,所述真空管(10)的底端设置有吸附件。

5.根据权利要求4所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述吸附件包括连接套(15),所述连接套(15)上设置有吸盘(12),所述吸盘(12)的内侧与所述真空管(10)连通。

6.根据权利要求5所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述吸盘(12)的内侧设置有多个密封环(16),各所述密封环(16)的圆心均与所述吸盘(12)的圆心重合。

7.根据权利要求4所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述真空管(10)贯穿所述安装盘(5),所述真空管(10)的外周面上设有螺纹,所述真空管(10)上螺纹连接有两个螺母(4),两个所述螺母(4)分别与所述安装盘(5)的两侧抵靠。

8.根据权利要求7所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述安装盘(5)上开设有滑槽(13),所述真空管(10)穿过所述滑槽(13)。

9.根据权利要求8所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述滑槽(13)沿所述安装盘(5)的径向分布。

10.根据权利要求1所述的集成电路检测设备,其特征在于,所述检测装置(9)位于所述安装盘(5)的圆心处,所述检测装置(9)为测距传感器或接近开关。

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