[实用新型]一种接触式芯片检测设备

权利要求书

1.一种接触式芯片检测设备，包括测试仪本体(1)，其特征在于，所述测试仪本体(1)正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构(2)，所述测试仪本体(1)正面一侧的底部开设有两个USB插槽(11)，所述测试仪本体(1)的外壁两侧均固定连接有两个连接板(7)，置于测试仪本体(1)外壁两侧的两个所述连接板(7)之间设有支撑机构(17)，位于测试仪本体(1)外壁同一侧的每两个所述连接板(7)之间固定设有提拉机构(15)。

2.根据权利要求1所述的一种接触式芯片检测设备，其特征在于：所述接线固定机构(2)包括两个开设于测试仪本体(1)正面的两个容纳槽(3)，两个所述容纳槽(3)的内壁底端均固定连接有连接杆，两个所述连接杆的一侧固定连接有限位柱(6)，两个所述容纳槽(3)的内壁一侧滑动连接有滑动柱(4)，每两个所述滑动柱(4)的一侧固定连接有固定柱。

3.根据权利要求2所述的一种接触式芯片检测设备，其特征在于：每个所述滑动柱(4)的两侧均固定连接有连接柱(5)，每个所述连接柱(5)的外壁两侧均固定连接有滑块(13)，每两个所述滑块(13)的位置相对应，两个所述滑动柱(4)的底端均固定连接有弹簧(16)，两个所述弹簧(16)底端分别和两个连接杆的顶端固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种接触式芯片检测设备，其特征在于：所述支撑机构(17)包括两个分别与两个连接板(7)转动连接的第一连接轴(8)，两个所述第一连接轴(8)的外壁均铰接设有第一连接杆(9)，两个所述第一连接杆(9)的一侧均穿插连接有第二连接轴，两个所述第二连接轴的外壁均铰接有第二连接杆(10)，两个所述第二连接杆(10)的底端均穿插连接有第三连接轴，两个所述第三连接轴的一端均固定连接有支撑板(12)。

5.根据权利要求1所述的一种接触式芯片检测设备，其特征在于：所述提拉机构(15)包括四个分别与每个连接板(7)一侧固定连接的第四连接轴，每两个所述第四连接轴的外壁均套设有连接套(14)，每两个所述连接套(14)的底端均连接有把手杆。