[实用新型]一种接触式芯片检测设备

说明书

本实用新型涉及电气设备领域，且公开了新型一种接触式芯片检测设备，包括包括测试仪本体，测试仪本体正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构，测试仪本体正面一侧的底部开设有两个USB插槽，测试仪本体的外壁两侧均固定连接有两个连接板，置于测试仪本体外壁两侧的两个连接板之间设有支撑机构，本实用新型通过在HDMI接口处设置有接线固定机构，其中的弹簧、滑动柱、限位柱使得测试仪本体接口处连接更加稳定，通过将滑动柱向上抬动，从而使得两个滑动柱的一侧分别在容纳槽的内壁滑动，同时对两个弹簧进行拉伸，当使用者将连接线完全插入进接口处时，通过松开滑动柱，从而使得固定柱与限位柱将连接线进行固定，提高连接的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及电气设备领域，具体为一种接触式芯片检测设备。

背景技术

芯片是一种半导体元件集成电路，它也可以称为微电路或者微芯片，通常集成电路封装技术主要分为陶瓷扁平装、双列直插平装、平面网格阵列封装等，其中由于陶瓷扁平装由于其稳定性和尺寸小，在军用中受到较多的使用。

而现有芯片在使用过程中为了确保芯片正常工作，往往通过芯片测试仪进行检测芯片是否可以工作，但是由于芯片测试仪在军用中往往容易受到周围环境振动影响，从而使得接口处的连接线容易发生松动，从而影响到测试仪的稳定性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种接触式芯片检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种接触式芯片检测设备，包括测试仪本体，所述测试仪本体正面一侧的HDIM接口处固定设有接线固定机构，所述测试仪本体正面一侧的底部开设有两个USB插槽，所述测试仪本体的外壁两侧均固定连接有两个连接板，置于测试仪本体外壁两侧的两个所述连接板之间设有支撑机构，位于测试仪本体外壁同一侧的每两个所述连接板之间固定设有提拉机构。

优选的，所述接线固定结构包括两个开设于测试仪本体正面的两个容纳槽，两个所述容纳槽的内壁底端均固定连接有连接杆，两个所述连接杆的一侧固定连接有限位柱，两个所述容纳槽的内壁一侧滑动连接有滑动柱，两个所述滑动柱的一侧固定连接有固定柱。

优选的，每个所述滑动柱的两侧均固定连接有连接柱，每个所述连接柱的外壁两侧均固定连接有滑块，每两个所述滑块的位置相对应，两个所述滑动柱的底端均固定连接有弹簧，两个所述弹簧底端分别和两个连接杆的顶端固定连接。

优选的，所述支撑机构包括两个分别与两个连接板转动连接的第一连接轴，两个所述第一连接轴的外壁均铰接设有第一连接杆，两个所述第一连接杆的一侧均穿插连接有第二连接轴，两个所述第二连接轴的外壁均铰接有第二连接杆，两个所述第二连接杆的底端均穿插连接有第三连接轴，两个所述第三连接轴的一端均固定连接有支撑板。

优选的，所述提拉机构包括四个分别与每个连接板固定连接的第四连接轴，每两个所述第四连接轴的外壁均套设有连接套，每两个所述连接套的底端均连接有把手杆。

本发明的技术效果和优点：

1、该一种接触式芯片检测设备，通过在HDMI接口处设置有接线固定机构，其中的弹簧、滑动柱、限位柱使得测试仪本体接口处连接更加稳定，通过将滑动柱向上抬动，从而使得两个滑动柱的一侧分别在容纳槽的内壁滑动，同时对两个弹簧进行拉伸，当使用者将连接线完全插入进接口处时，通过松开滑动柱，从而使得固定柱与限位柱将连接线进行固定，提高连接的稳定性。

2、该一种接触式芯片检测设备，通过接线固定机构设置的两个滑块与连接柱，使得工作人员在拉动滑动柱时，可以通过滑块在第二滑槽的内壁滑动以及连接柱在第一滑槽内壁的滑动，将滑动柱滑动的轨迹进行限位。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型滑动柱结构示意图；