[实用新型]一种基于测试设备的芯片防尘装置

权利要求书

1.一种基于测试设备的芯片防尘装置，包括芯片安置盒(1)、测试底架(2)和测试传送带(3)，其特征在于：所述芯片安置盒(1)的顶部中心处开设有芯片凹槽(11)，所述芯片凹槽(11)的内部底面中心处设置有控制芯片(12)，所述芯片凹槽(11)的内部底面靠近前表面和后表面边缘处均设置有吸尘方块(13)，所述芯片凹槽(11)的顶部靠近四周边缘之间设置有防尘滤网(14)，所述芯片安置盒(1)的顶部靠近前表面和后表面边缘处均设置有输入连接口(15)。

2.根据权利要求1所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述测试底架(2)的前表面中心处开设有控制凹槽(21)，所述控制凹槽(21)的顶部靠近前表面和后表面边缘处均设置有接触连接口(22)。

3.根据权利要求1所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述测试底架(2)的顶部中心处设置有拱形扫描架(4)，所述拱形扫描架(4)的底部接口与接触连接口(22)相连接。

4.根据权利要求1所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述测试传送带(3)的支撑腿与所述测试底架(2)顶部相焊接。

5.根据权利要求2所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述控制凹槽(21)的内表壁与所述芯片安置盒(1)的外表壁相互无缝滑动。

6.根据权利要求1所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述测试底架(2)的前表面靠近中心处两侧均通过转轴设置有旋转档杆(23)。

7.根据权利要求5所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述芯片安置盒(1)的前表面设置有推拉杆(16)。

8.根据权利要求3所述的一种基于测试设备的芯片防尘装置，其特征在于：所述拱形扫描架(4)的前表面靠近底部边缘处设置有控制屏幕(41)。