[实用新型]一种基于测试设备的芯片防尘装置

说明书

本实用新型公开了一种基于测试设备的芯片防尘装置，其技术方案要点是：包括芯片安置盒、测试底架和测试传送带，所述芯片安置盒的顶部中心处开设有芯片凹槽，所述芯片凹槽的内部底面中心处设置有控制芯片，所述芯片凹槽的内部底面靠近前表面和后表面边缘处均设置有吸尘方块，所述芯片凹槽的顶部靠近四周边缘之间设置有防尘滤网，所述芯片安置盒的顶部靠近前表面和后表面边缘处均设置有输入连接口；吸尘方块能对芯片凹槽内部的灰尘产生吸附清洁的作用，再加上防尘滤网对外界灰尘的阻挡作用，使得装置中的芯片防尘效果达到最佳状态，保障了控制芯片与装置连接的稳定性，从而提高工作效率。

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体涉及一种基于测试设备的芯片防尘装置。

背景技术

随着时代的发展，各种高科技产品的不断更新换代，为了防止不合格的生产产品发行到市场。测试设备的使用就很有必要了，它能有效减少不符合国家标准的产品流入市场，其中现有的测试设备中对内部芯片的固定和防护尤为重要。

但是在实际使用过程中，现有的测试设备在使用过程中由于循环的开启测试，其内部的芯片在负荷运转下会受到来自外界的各种干扰，其中灰尘的附着会造成芯片与装置之间连接的不稳定，从而造成装置失灵影响工作效率，而且，作为精密的测试设备，装置的芯片基本上被安装在装置的中心部位，造成装置芯片在出现问题或需要更新换代时，需要对装置整体进行拆卸，这种架构方式不仅增加了工作难度，在拆卸和组装过程中装置还可能会发生各种形式的错误是不可取的。

实用新型内容

针对背景技术中提到的问题，本实用新型的目的是提供一种基于测试设备的芯片防尘装置，以解决背景技术中提到的问题。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：

一种基于测试设备的芯片防尘装置，包括芯片安置盒、测试底架和测试传送带，所述芯片安置盒的顶部中心处开设有芯片凹槽，所述芯片凹槽的内部底面中心处设置有控制芯片，所述芯片凹槽的内部底面靠近前表面和后表面边缘处均设置有吸尘方块，所述芯片凹槽的顶部靠近四周边缘之间设置有防尘滤网，所述芯片安置盒的顶部靠近前表面和后表面边缘处均设置有输入连接口。

通过采用上述技术方案，在芯片安置盒上控制芯片安装在芯片凹槽内部，控制芯片是装置中的控制结构，吸尘方块能对芯片凹槽内部的灰尘产生吸附清洁的作用，再加上防尘滤网对外界灰尘的阻挡作用，使得装置中的芯片防尘效果达到最佳状态，保障了控制芯片与装置连接的稳定性，从而提高工作效率。

较佳的，所述测试底架的前表面中心处开设有控制凹槽，所述控制凹槽的顶部靠近前表面和后表面边缘处均设置有接触连接口。

通过采用上述技术方案，控制凹槽是安装芯片安置盒的结构，控制凹槽上设置的接触连接口与芯片凹槽上设置的输入连接口相互接触连接，使控制芯片发挥作用。

较佳的，所述测试底架的顶部中心处设置有拱形扫描架，所述拱形扫描架的底部接口与接触连接口相连接。

通过采用上述技术方案，拱形扫描架是本装置的主要测试结构，拱形扫描架通过与接触连接口的连接从而被输入连接口控制。

较佳的，所述测试传送带的支撑腿与所述测试底架顶部相焊接。

通过采用上述技术方案，测试传送带安装在测试底架的顶部，使得测试传送带能对被测试装置进行传送，使得被测试装置从拱形扫描架内部经过，从而被测试检查，且能通过调整测试传送带的运转速度和运转状态来控制待测试装置从拱形扫描架下经过所需要的时间，使得待检测设备的能被更加深入精确的检测，增加了测试的可信程度。

较佳的，所述控制凹槽的内表壁与所述芯片安置盒的外表壁相互无缝滑动。