[实用新型]一种绑定电阻测试结构及显示装置有效
| 申请号： | 202121748818.3 | 申请日： | 2021-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN215298810U | 公开（公告）日： | 2021-12-24 |
| 发明（设计）人： | 张东琪;柳发霖;付浩;张松岩 | 申请（专利权）人： | 信利（仁寿）高端显示科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 刘爱珍 |
| 地址： | 620500 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 绑定 电阻 测试 结构 显示装置 | ||
1.一种绑定电阻测试结构，其特征在于，包括：
IC绑定单元，用于与驱动IC进行绑定，包括M个IC绑定PAD，M为正整数，各个IC绑定PAD之间依次电性连接；
FPC绑定单元，用于与FPC进行绑定，包括M+1个FPC绑定PAD，前M个FPC绑定PAD分别与对应的IC绑定PAD电性连接，第M+1个FPC绑定PAD与第M个FPC绑定PAD电性连接；
测试连接单元，用于与测试设备连接，包括M+1个测试连接PAD，各个测试连接PAD与对应的FPC绑定PAD电性连接。
2.根据权利要求1所述的绑定电阻测试结构，其特征在于，所述FPC绑定PAD与对应的IC绑定PAD之间通过对应的第一导线相连接。
3.根据权利要求1或2所述的绑定电阻测试结构，其特征在于，所述FPC绑定PAD与对应的测试连接PAD之间通过对应的第二导线相连接。
4.根据权利要求1所述的绑定电阻测试结构，其特征在于，各个IC绑定PAD之间通过对应的第三导线相连接。
5.根据权利要求1或4所述的绑定电阻测试结构，其特征在于，第M+1个FPC绑定PAD与第M个FPC绑定PAD之间通过第四导线相连接。
6.根据权利要求1所述的绑定电阻测试结构，其特征在于，所述IC绑定PAD、FPC绑定PAD和测试连接PAD中至少一种为金属PAD。
7.根据权利要求1所述的绑定电阻测试结构，其特征在于，所述IC绑定PAD的数量为3个，所述FPC绑定PAD和测试连接PAD的数量分别为4个。
8.一种显示装置，包括显示区域和非显示区域，其特征在于，权利要求1-7中任一所述的绑定电阻测试结构设置于所述非显示区域上；所述IC绑定单元上绑定有驱动IC，所述FPC绑定单元上绑定有FPC。
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