[实用新型]一种超微量检测遮光装置

权利要求书

1.一种超微量检测遮光装置，安装在超微量检测台上，所述超微量检测台包括上检测臂和下检测臂，所述下检测臂水平固定，所述上检测臂采用销轴铰接在下检测臂上，所述下检测臂上设有定位方孔、限位孔和安装孔，其特征在于：包括密封圈组，所述密封圈组包括第一密封圈和第二密封圈，第一密封圈固定在下检测臂上，定位方孔、限位孔以及安装孔均位于第一密封圈内，第二密封圈固定在上检测臂上，且上检测臂与下检测臂靠拢后，第二密封圈位于第一密封圈的外部。

2.根据权利要求1所述的一种超微量检测遮光装置，其特征在于：所述限位孔用于安装限位座，限位座的顶部露出限位孔，第一密封圈与第二限位圈的高度均不超过限位座露出限位孔的高度。

3.根据权利要求1所述的一种超微量检测遮光装置，其特征在于：所述第一密封圈与第二密封圈均为长方形结构，长方形结构的短边平行于销轴，长边垂直于销轴。

4.根据权利要求3所述的一种超微量检测遮光装置，其特征在于：当上检测臂与下检测臂合拢后，第一密封圈的长边与第二密封圈对应的长边之间的缝隙宽度不超过2mm。

5.根据权利要求4所述的一种超微量检测遮光装置，其特征在于：当上检测臂与下检测臂合拢后，第一密封圈的短边与第二密封圈对应的短边之间的缝隙宽度不小于第二密封圈的高度。

6.根据权利要求1所述的一种超微量检测遮光装置，其特征在于：所述下检测臂上开设有放置槽，第一密封圈与第二密封圈均设有两组，且一组第一密封圈以及对应的第二密封圈用于密封定位方孔，另一组第一密封圈以及对应的第二密封圈用于密封安装孔。

7.根据权利要求6所述的一种超微量检测遮光装置，其特征在于：还包括第三密封圈，所述第三密封圈固定在上检测臂上，当上检测臂靠拢下检测臂时，第三密封圈位于放置槽的外部。