[实用新型]一种超微量检测遮光装置

说明书

本实用新型属于超微量检测设备技术领域，具体公开了一种超微量检测遮光装置，安装在超微量检测台上，所述超微量检测台包括上检测臂和下检测臂，所述下检测臂水平固定，所述上检测臂采用销轴铰接在下检测臂上，所述下检测臂上设有定位方孔、限位孔和安装孔，包括密封圈组，所述密封圈组包括第一密封圈和第二密封圈，第一密封圈固定在下检测臂上，定位方孔、限位孔以及安装孔均位于第一密封圈内，第二密封圈固定在上检测臂上，且上检测臂与下检测臂靠拢后，第二密封圈位于第一密封圈的外部。采用本实用新型的方案，外部光被阻挡，不再对比色皿的检测造成影响。

技术领域

本实用新型属于超微量检测设备技术领域，具体涉及了一种超微量检测遮光装置。

背景技术

微量分光光度计是利用微量液体的表面张力在两个距离很近的光纤基座之间形成光通路，两个光纤基座之间的距离就是光程；由朗伯——比尔定律A＝Kbc，当吸光度A不变时，浓度c与光程b成反比，而仪器之间能测的吸光度范围差别不大，当光程b很小时，仪器能直接测量高浓度样品。

目前，市场上出现的超微量分光光度计，一般包括固定的下检测臂以及铰接在下检测臂上的上检测臂，下检测臂上设有放置比色皿的定位方孔、安装限位座的限位孔，以及安装光线基座的安装孔，在上检测臂正对下检测臂一侧的端面上设有与限位孔对应的限位槽以及与安装孔对应的通过孔，由于在检测时需要上检测臂与下检测臂之间具有一定间隙，因此限位座的顶部从限位孔凸出，但这就使得外部光对比色皿检测时造成影响，基于此本申请提供了一种超微量检测遮光装置。

实用新型内容

针对现有技术中所存在的不足，本实用新型提供了一种超微量检测遮光装置，以解决目前上检测臂与下检测臂之间具有一定间隙，使得外部光对比色皿检测时造成影响。

为实现上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案：

一种超微量检测遮光装置，安装在超微量检测台上，所述超微量检测台包括上检测臂和下检测臂，所述下检测臂水平固定，所述上检测臂采用销轴铰接在下检测臂上，所述下检测臂上设有定位方孔、限位孔和安装孔，包括密封圈组，所述密封圈组包括第一密封圈和第二密封圈，第一密封圈固定在下检测臂上，定位方孔、限位孔以及安装孔均位于第一密封圈内，第二密封圈固定在上检测臂上，且上检测臂与下检测臂靠拢后，第二密封圈位于第一密封圈的外部。

相比于现有技术，本实用新型具有如下有益效果：

1、采用本方案当上检测臂与下检测臂靠拢后，由于第二密封圈位于第一密封圈的外部，这样使得上检测臂与下检测臂之间的缝隙被阻挡，且由于定位方孔、限位孔和安装孔均位于第一密封圈内部，因此外部光被阻挡，不再对比色皿的检测造成影响。

2、另外本方案中密封圈组采用第一密封圈与第二密封圈相套的结构，使得对外部光遮挡的效果进一步提高，从而也进一步提高超微量检测的准确性。

进一步，所述限位孔用于安装限位座，限位座的顶部露出限位孔，第一密封圈与第二限位圈的高度均不超过限位座露出限位孔的高度。

有益效果：这样当上检测臂与下检测臂靠拢后，第一密封圈与第二密封圈不会被挤压，从而防止出现不可逆的形变。

进一步，所述第一密封圈与第二密封圈均为长方形结构，长方形结构的短边平行于销轴，长边垂直于销轴。

有益效果：这样设置，使得第一密封圈与第二密封圈更好安装。

进一步，当上检测臂与下检测臂合拢后，第一密封圈的长边与第二密封圈对应的长边之间的缝隙宽度不超过2mm。

有益效果：这样进一步防止外部光通过第一密封圈与第二密封圈之间的间隙折射进入并干扰检测。

进一步，当上检测臂与下检测臂合拢后，第一密封圈的短边与第二密封圈对应的短边之间的缝隙宽度不小于第二密封圈的高度。