[实用新型]一种针对半导体的真空测试计有效
| 申请号： | 202121805159.2 | 申请日： | 2021-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN215493719U | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 刘国清;胡旭伟 | 申请（专利权）人： | 杭州必耕自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 | 代理人： | 沈相权 |
| 地址： | 311201 浙江省杭州市萧山*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 针对 半导体 真空 测试 | ||
1.一种针对半导体的真空测试计，包括便携箱(1)和测试件(2)，其特征在于：所述测试件(2)上表面右侧的前部设有卡接机构(3)，所述卡接机构(3)包括固定箱座(31)和调节盘(32)，所述固定箱座(31)的底部与调节盘(32)转动连接，所述固定箱座(31)的内部设有多组滑座(311)，且滑座(311)与固定箱座(31)之间固定连接有第一弹簧(315)，所述固定箱座(31)的上下表面均开设有多组限位滑槽(312)，所述滑座(311)的上部和下部分别固定连接有卡座(313)和推杆(314)，所述卡座(313)和推杆(314)分别贯穿于固定箱座(31)上下两侧表面的限位滑槽(312)处，且卡座(313)和推杆(314)分别与固定箱座(31)上下两侧表面的限位滑槽(312)处滑动连接，所述卡座(313)的上部转动连接有压座(316)，所述调节盘(32)的表面开设有多组弧形槽道(321)，所述推杆(314)的底端贯穿于弧形槽道(321)处。
2.根据权利要求1所述的一种针对半导体的真空测试计，其特征在于：所述调节盘(32)的后部固定连接有连接杆(322)，所述连接杆(322)后端的上部固定连接有手推杆(323)。
3.根据权利要求2所述的一种针对半导体的真空测试计，其特征在于：所述测试件(2)上表面右侧的后部设有推杆弧形槽(21)，所述手推杆(323)的上端贯穿于推杆弧形槽(21)处，且手推杆(323)与推杆弧形槽(21)滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种针对半导体的真空测试计，其特征在于：所述测试件(2)上表面的右侧设有显控机构(4)，所述显控机构(4)包括显示面板(41)和按键(42)。
5.根据权利要求1所述的一种针对半导体的真空测试计，其特征在于：所述测试件(2)的两侧通过滑组(5)与便携箱(1)内腔的左右两侧滑动连接，所述测试件(2)的底部与便携箱(1)内腔的底部之间固定连接有第二弹簧(6)。
6.根据权利要求1所述的一种针对半导体的真空测试计，其特征在于：所述便携箱(1)包括箱体(11)和箱盖(12)，所述箱体(11)的上部与箱盖(12)铰接，所述箱盖(12)上表面的中心铰接有把手(121)。
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