[实用新型]一种针对半导体的真空测试计

说明书

本实用新型公开了一种针对半导体的真空测试计，包括便携箱和测试件，测试件上表面右侧的前部设有卡接机构，卡接机构包括固定箱座和调节盘，固定箱座的底部与调节盘转动连接，固定箱座的内部设有多组滑座，滑座与固定箱座之间固定连接有第一弹簧，固定箱座的上下表面均开设有多组限位滑槽，本实用新型涉及半导检测技术领域。该针对半导体的真空测试计，通过转动手推杆带动调节盘转动，从而使弧形槽道带动推杆连接的滑座向外侧移动，放置待测试的半导体，第一弹簧推动滑座向内侧移动，使卡座卡住半导体，通过转动压座抵压在半导体的上部，使待测试半导体固定稳定，适用于不同尺寸规格的产品，可以减低成本，方便操作和使用。

技术领域

本实用新型涉及半导检测技术领域，具体为一种针对半导体的真空测试计。

背景技术

随着科技的发展，芯片的功能也愈来愈多、愈来愈复杂，关于半导体，无论是集成电路或芯片的半导体测试，在制造过程中的不同阶段都是必须的，如此才能确保其功能。

现有的半导体测试仪器中，基本根据实际检测的半导体的尺寸需求来制作对应尺寸的测试装置，如果需要测试其他型号的半导体，需要重新进行制作测试装置，一方面测试成本增加，另一方面也会极大地降低检测效率，而且现有的测试仪器在携带运输过程中，内部元件容易受损，降低设备的使用寿命。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种针对半导体的真空测试计，解决了现有的半导体测试仪器不适用于不同尺寸规格的产品测试，致使成本增加，同时降低检测效率，测试仪器在携带运输过程中，内部元件容易受损的问题。

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种针对半导体的真空测试计，包括便携箱和测试件，所述测试件上表面右侧的前部设有卡接机构，所述卡接机构包括固定箱座和调节盘，所述固定箱座的底部与调节盘转动连接，所述固定箱座的内部设有多组滑座，且滑座与固定箱座之间固定连接有第一弹簧，所述固定箱座的上下表面均开设有多组限位滑槽，所述滑座的上部和下部分别固定连接有卡座和推杆，所述卡座和推杆分别贯穿于固定箱座上下两侧表面的限位滑槽处，且卡座和推杆分别与固定箱座上下两侧表面的限位滑槽处滑动连接，所述卡座的上部转动连接有压座，所述调节盘的表面开设有多组弧形槽道，所述推杆的底端贯穿于弧形槽道处。

优选的，所述调节盘的后部固定连接有连接杆，所述连接杆后端的上部固定连接有手推杆。

优选的，所述测试件上表面右侧的后部设有推杆弧形槽，所述手推杆的上端贯穿于推杆弧形槽处，且手推杆与推杆弧形槽滑动连接。

优选的，所述测试件上表面的右侧设有显控机构，所述显控机构包括显示面板和按键。

优选的，所述测试件的两侧通过滑组与便携箱内腔的左右两侧滑动连接，所述测试件的底部与便携箱内腔的底部之间固定连接有第二弹簧。

优选的，所述便携箱包括箱体和箱盖，所述箱体的上部与箱盖铰接，所述箱盖上表面的中心铰接有把手。

有益效果

本实用新型提供了一种针对半导体的真空测试计。与现有技术相比具备以下有益效果：

(1)、该针对半导体的真空测试计，通过在固定箱座的底部与调节盘转动连接，且滑座与固定箱座之间固定连接有第一弹簧，卡座和推杆分别贯穿于固定箱座上下两侧表面的限位滑槽处，且卡座和推杆分别与固定箱座上下两侧表面的限位滑槽处滑动连接，卡座的上部转动连接有压座，调节盘的表面开设有多组弧形槽道，推杆的底端贯穿于弧形槽道处，连接杆后端的上部固定连接有手推杆，通过转动手推杆带动调节盘转动，从而使弧形槽道带动推杆连接的滑座向外侧移动，放置待测试的半导体，第一弹簧推动滑座向内侧移动，使卡座卡住半导体，通过转动压座抵压在半导体的上部，使待测试半导体固定稳定，可以适用于不同尺寸规格的产品，可以减低成本，方便操作和使用。