[实用新型]一种新型射频芯片测试装置

权利要求书

1.一种新型射频芯片测试装置，包括射频测试设备(1)和插接件(101)，所述插接件(101)的数量为若干个且均匀嵌接于射频测试设备(1)前端，其特征在于：

所述射频测试设备(1)前端下方开设有预留槽(102)，且射频测试设备(1)前端并位于预留槽(102)下方铰接有附属板(4)，所述附属板(4)外壁下方嵌接有把手(401)，且附属板(4)内壁均匀嵌接有若干个夹持环一(402)，所述附属板(4)内壁且位于夹持环一(402)前端均设有夹持环二(501)，且夹持环二(501)底端固定有嵌入于附属板(4)内部的伸缩轴(5)，所述夹持环二(501)内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠(502)。

2.根据权利要求1所述的一种新型射频芯片测试装置，其特征在于：所述射频测试设备(1)前端且位于附属板(4)下方紧密粘接有防撞垫板(3)，且把手(401)随附属板(4)的开启而抵住防撞垫板(3)。

3.根据权利要求1所述的一种新型射频芯片测试装置，其特征在于：所述射频测试设备(1)前端且位于预留槽(102)上方嵌入有吸合磁块(2)，且附属板(4)内壁前端开设有衔接槽(403)，所述衔接槽(403)与吸合磁块(2)相互衔接。

4.根据权利要求1所述的一种新型射频芯片测试装置，其特征在于：所述夹持环一(402)设有若干纵排，且夹持环二(501)分别位于每一纵排所述夹持环一(402)正前端且呈纵向水平排布。

5.根据权利要求1所述的一种新型射频芯片测试装置，其特征在于：所述夹持环二(501)随伸缩轴(5)伸缩而上下移动，且滚珠(502)内端凸出于夹持环二(501)内壁。

6.根据权利要求1所述的一种新型射频芯片测试装置，其特征在于：所述夹持环一(402)以及夹持环二(501)均通过附属板(4)闭合于预留槽(102)内。