[实用新型]一种新型射频芯片测试装置

说明书

本实用新型提供了一种新型射频芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域，射频测试设备前端下方开设有预留槽，且射频测试设备前端并位于预留槽下方铰接有附属板，附属板外壁下方嵌接有把手，且附属板内壁均匀嵌接有若干个夹持环一，附属板内壁且位于夹持环一前端均设有夹持环二，且夹持环二底端固定有嵌入于附属板内部的伸缩轴，夹持环二内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠，射频测试设备前端且位于附属板下方紧密粘接有防撞垫板，且把手随附属板的开启而抵住防撞垫板，一组固线结构针对一根线缆进行固线，使得线缆从插接件到被测芯片元件之间的一段位置被定位，线缆之间输出时不易相互缠卷。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体为一种新型射频芯片测试装置。

背景技术

射频测试是射频电流，它是一种高频交流变化电磁波的简称。传统射频芯片测试设备在进行工作时，需要连接多根测试线缆，线缆数量过多的情况下就容易出现相互缠卷打结的情况，而传统射频芯片测试设备缺少集线固线结构，不利于测试工作。

实用新型内容

本实用新型提供了一种新型射频芯片测试装置，解决了线缆数量过多的情况下就容易出现相互缠卷打结的情况的问题。

为达到以上目的，本实用新型采取的技术方案是：一种新型射频芯片测试装置，包括射频测试设备和插接件，所述插接件的数量为若干个且均匀嵌接于射频测试设备前端；

所述射频测试设备前端下方开设有预留槽，且射频测试设备前端并位于预留槽下方铰接有附属板，所述附属板外壁下方嵌接有把手，且附属板内壁均匀嵌接有若干个夹持环一，所述附属板内壁且位于夹持环一前端均设有夹持环二，且夹持环二底端固定有嵌入于附属板内部的伸缩轴，所述夹持环二内壁均匀滚动连接有若干颗滚珠。

进一步的优选方案：所述射频测试设备前端且位于附属板下方紧密粘接有防撞垫板，且把手随附属板的开启而抵住防撞垫板，把手与防撞垫板均由橡胶材质制成，把手接触防撞垫板时，两者可相互减震。

进一步的优选方案：所述射频测试设备前端且位于预留槽上方嵌入有吸合磁块，且附属板内壁前端开设有衔接槽，所述衔接槽与吸合磁块相互衔接，附属板由冷轧钢材质制成，附属板的衔接槽可与吸合磁块相吸合。

进一步的优选方案：所述夹持环一设有若干纵排，且夹持环二分别位于每一纵排所述夹持环一正前端且呈纵向水平排布，通过夹持环一以及夹持环二可起到固线效果。

进一步的优选方案：所述夹持环二随伸缩轴伸缩而上下移动，且滚珠内端凸出于夹持环二内壁，夹持环二的高度可调，以便调节线缆输出的位置。

进一步的优选方案：所述夹持环一以及夹持环二均通过附属板闭合于预留槽内。

本实用新型的有益效果：

附属板往下翻转开启，且把手随附属板开启而位移，把手接触防撞垫板时，两者可相互缓冲减震，避免附属板撞击到射频测试设备导致两者受损；

因为附属板位置较低，为了利于开启附属板，还可直接用脚将把手往下踩，附属板同样能够被开启，此方法不需要弯腰拉动把手，节省劳力；

一组固线结构针对一根线缆进行固线，线缆由后往前从夹持环二输出，使得线缆从插接件到被测芯片元件之间的一段位置被定位，线缆之间输出时不易相互缠卷，伸缩轴延长后通过弹簧钢珠保持延长状态，夹持环二的位置则上移，使线缆从夹持环二输出位置的高度变高，且滚珠可沿线缆外壁移动，降低线缆与夹持环二之间的摩擦力；

使得固线的同时能够调节线缆输出的位置，具有良好实用性。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的射频测试设备结构示意图；

图3为本实用新型的A处局部放大结构示意图；